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不同電阻容差對THD性能的影響規(guī)律
在高精度信號采集系統(tǒng)中，差分ADC憑借其優(yōu)異的共模抑制能力、抗干擾性能，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)測量、醫(yī)療儀器、通信設(shè)備等領(lǐng)域?？傊C波失真(THD)作為評估ADC信號保真度的核心指標(biāo)，直接決定了系統(tǒng)對原始信號的還原精度。在差分ADC的信號調(diào)理電路與內(nèi)部量化模塊中，電阻元件承擔(dān)著信號分壓、阻抗匹配、積分濾波等關(guān)鍵功能，其容差特性會通過電路增益偏差、相位失衡等路徑影響THD性能。本文將從差分ADC的工作機制出發(fā)，深入分析不同電阻容差對THD性能的影響規(guī)律，并結(jié)合實際應(yīng)用場景給出優(yōu)化建議。
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CMOS 單電源放大器 THD+N 性能的關(guān)鍵影響因素解析
THD+N(總諧波失真 + 噪聲)作為衡量 CMOS 單電源放大器信號保真度的核心指標(biāo)，直接決定了音頻、精密測量等系統(tǒng)的動態(tài)范圍與輸出精度。其數(shù)值反映了輸出信號中諧波失真與背景噪聲的總能量占基波能量的比例，通常以百分比(如 0.01%)或分貝(如 - 80dB)表示，數(shù)值越低說明信號還原度越高。CMOS 單電源放大器因供電方式獨特，其 THD+N 性能受電路拓?fù)?、器件特性、電源質(zhì)量等多重因素耦合影響，本文將結(jié)合拓?fù)湓砼c實測數(shù)據(jù)展開詳細(xì)分析。
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差分ADC中不同電阻容差對THD性能的影響
在模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的設(shè)計與應(yīng)用中，總諧波失真(THD)是衡量其性能的重要指標(biāo)之一。尤其是在差分ADC(全差分模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)中，電阻的容差對THD性能具有顯著影響。本文將深入探討差分ADC中不同電阻容差如何影響THD性能，并分析其對整體系統(tǒng)性能的影響及設(shè)計優(yōu)化策略。
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羅德與施瓦茨推出新型R&S NPA系列緊湊型功率分析儀可滿足所有功率測量要求
羅德與施瓦茨(以下簡稱“R&S”)新推出的功率分析儀系列有三種型號，可滿足測量直流和交流源的電壓、電流、功率和總諧波失真的所有要求。
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TPS92314 THD 設(shè)計考慮因素（一）
摘要 TPS92314器件可安裝在初級側(cè)穩(wěn)壓和反向拓?fù)涞腖ED驅(qū)動器中。它是一款離線控制器，經(jīng)過專門設(shè)計，擁有初級側(cè)檢測、恒定導(dǎo)通時間和準(zhǔn)諧振開關(guān)技術(shù)。TPS92314應(yīng)用電路具
- 安富利3kW模擬電源供應(yīng)器（PSU）解決方案開發(fā)板來襲，申請領(lǐng)好禮
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