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TDA6103Q的具有反饋因數(shù)1／150的測(cè)試電路圖
如圖所示為TDA6103Q的具有反饋因數(shù)1／150的測(cè)試電路。輸入信號(hào)Vi1、Vi2、Vi3經(jīng)過由電阻與電容組成的輸入網(wǎng)絡(luò)進(jìn)入TDA6103Q的1、2、3腳，1、2、3腳與5腳分別是內(nèi)部差分輸入級(jí)的反相輸入端和同相輸入端。放大后的信號(hào)分
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TDA6106Q的具有反饋因數(shù)1／116的測(cè)試電路圖
如圖所示為TDA6106Q的具有反饋因數(shù)1／116的測(cè)試電路。輸入信號(hào)Vin經(jīng)過由R1、C1、C2、R9組成的輸入網(wǎng)絡(luò)進(jìn)入TDA6106Q的3腳，3腳是內(nèi)部差分輸入級(jí)的反相輸入端。放大后的信號(hào)從8腳輸出，經(jīng)過由R2、R3、C7、C8、C9組成的
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TDA6108JF的測(cè)試電路圖
如圖所示為TDA6108JF的測(cè)試電路。輸入信號(hào)Vi1、Vi2、Vi3經(jīng)過由電容組成的輸入網(wǎng)絡(luò)進(jìn)入TDA6108JF的1、2、3腳，1、2、3腳是內(nèi)部差分輸入級(jí)的反相輸入端，放大后的信號(hào)分別從9、8、7腳輸出，經(jīng)過各自的輸出網(wǎng)絡(luò)去探針1至
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TDA6120Q的具有反饋因數(shù)1／83的測(cè)試電路圖
如圖所示為TDA6120Q的具有反饋因數(shù)1／83的測(cè)試電路。輸入信號(hào)Vi經(jīng)由Ra、C10、C11組成的輸入網(wǎng)絡(luò)進(jìn)入TDA6120Q的2腳，2腳與4腳分別是內(nèi)部差分輸入級(jí)的反相輸入端和同相輸入端，放大后的信號(hào)從12腳輸出，經(jīng)過由Rflash、
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TDA8350Q的測(cè)試電路圖
如圖所示為TDA8350Q的測(cè)試電路，該電路是在推挽功率放大器輸出端用電阻作為假負(fù)載替代偏轉(zhuǎn)線圈進(jìn)行測(cè)試。 function resizeImage(evt,obj){ newX=evt.x; newY=evt.y; obj.width=newX; obj.height=newY;
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TDA8351／8356的測(cè)試電路圖
如圖所示為為TDA8351／8356的測(cè)試電路。該測(cè)試電路是在推挽功率放大器輸出端用電阻作為假負(fù)載替代偏轉(zhuǎn)線圈進(jìn)行測(cè)試。 function resizeImage(evt,obj){ newX=evt.x; newY=evt.y; obj.width=newX; obj.height=
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TDA8357J／8359J的測(cè)試電路圖
如圖所示為TDA8357J／8359J的測(cè)試電路。該電路是在推挽功率放大器輸出端用電阻作為假負(fù)載替代偏轉(zhuǎn)線圈進(jìn)行測(cè)試。 function resizeImage(evt,obj){ newX=evt.x; newY=evt.y; obj.width=newX; obj.height=newY
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簡易晶振測(cè)試電路
本文介紹一款簡單易作的晶振測(cè)試裝置，原理電路如附圖所示。 圖中，V1及其外圍元件（包括被測(cè)晶振）共同組成一個(gè)電容三點(diǎn)式振蕩器。當(dāng)探頭X1、X2兩端接入被測(cè)晶振時(shí)，電路振蕩。振蕩信號(hào)經(jīng)V2射極跟隨級(jí)放大后輸出，經(jīng)
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555構(gòu)成的多路溫度測(cè)試電路
如圖所示為多路溫度測(cè)試電路。該測(cè)試電路主要由以555為核心構(gòu)成的單穩(wěn)延時(shí)電路組成。 當(dāng)按下按鈕AN時(shí)，IC1(555)因②腳為低電平而發(fā)生置位，③腳輸出的高電平使繼電器J1吸合，相應(yīng)將該通道的熱電偶接通。同時(shí)，發(fā)光管
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振動(dòng)測(cè)試電路
如圖所示為振動(dòng)測(cè)試電路。該測(cè)試電路由加速度計(jì)TA-25、集成運(yùn)算放大器741(IC1、IC3、IC5、IC7)、場效應(yīng)管輸入的低漂移運(yùn)算放大器等組成。其應(yīng)用于周期性加速檢測(cè)。由加速計(jì)TA-25輸出的信號(hào)經(jīng)過集成電路IC1(741)的低通
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簡易鋰電池保護(hù)IC測(cè)試電路的設(shè)計(jì)
本文中設(shè)計(jì)了一個(gè)簡單的測(cè)試電路，借助普通的電子儀器就可以完成對(duì)鋰電池保護(hù)IC的測(cè)試。
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