
該設(shè)計(jì)運(yùn)用三星公司的S3C2440,結(jié)合ICRoute公司的高性能語音識(shí)別芯片LD3320,進(jìn)行了語音識(shí)別系統(tǒng)的硬件和軟件設(shè)計(jì)。在嵌入式Linux操作系統(tǒng)下,運(yùn)用多進(jìn)程機(jī)制完成了對(duì)語音識(shí)
該設(shè)計(jì)運(yùn)用三星公司的S3C2440,結(jié)合ICRoute公司的高性能語音識(shí)別芯片LD3320,進(jìn)行了語音識(shí)別系統(tǒng)的硬件和軟件設(shè)計(jì)。在嵌入式Linux操作系統(tǒng)下,運(yùn)用多進(jìn)程機(jī)制完成了對(duì)語音識(shí)
電導(dǎo)率是一個(gè)衡量水溶液導(dǎo)電能力的電學(xué)物理量, 電阻率的倒數(shù)為電導(dǎo)率,用希臘字母κ表示,κ=1/ρ。一般意義上,電導(dǎo)率的測(cè)量溫度是標(biāo)準(zhǔn)溫度(25℃)。在液體中
生物電阻抗測(cè)量系統(tǒng)包括電阻抗成像優(yōu)化電極配置方案、高速高精度電阻抗測(cè)量方法、高速數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)處理方法、阻抗圖像重建方法等。高速高精度電阻抗測(cè)量方法中,信號(hào)采集系統(tǒng)的前端信號(hào)檢測(cè)調(diào)理是影響信號(hào)采集速度和精度的關(guān)鍵因素。因此,如何設(shè)計(jì)微弱信號(hào)檢測(cè)調(diào)理系統(tǒng)成為生物電阻抗測(cè)量系統(tǒng)的重點(diǎn)之一。本章主要介紹微弱信號(hào)
3.3正交雙激勵(lì)數(shù)字相敏檢波方法 3.3.1正交雙激勵(lì)數(shù)字相敏檢波原理 數(shù)字相敏檢波技術(shù)能夠有效提取被測(cè)信號(hào)的幅度和相位,隨著累積周期的增加,系統(tǒng)的整體誤差將減小。但是隨著周期的增加,檢波的時(shí)間也跟著會(huì)增加,以這種方式檢波時(shí),將系統(tǒng)整體誤差減小是以時(shí)間為代價(jià)換來的。為解決單激勵(lì)DPSD存在較大系統(tǒng)
2.3.2基于混沌振子的微弱信號(hào)檢測(cè) 混沌理論作為一門新學(xué)科已經(jīng)引起了大家的重視,是近年來非線性科學(xué)領(lǐng)域的熱門學(xué)科?;煦缒壳吧袩o通用、嚴(yán)格的定義,一般認(rèn)為,在某些確定性非線性系統(tǒng)中,不需要附加任何隨機(jī)因素,僅由其內(nèi)部存在著非線性的相互作用所產(chǎn)生的類隨機(jī)現(xiàn)象稱為混沌。當(dāng)系統(tǒng)發(fā)生混沌行為時(shí),系統(tǒng)響應(yīng)對(duì)
電阻抗成像技術(shù)(Electrical Impedance Tomography, EIT)是當(dāng)今生物醫(yī)學(xué)工程重大研究課題之一,是繼形態(tài)、結(jié)構(gòu)成像之后,于八十年代出現(xiàn)的新一代有效的無損傷功能成像技術(shù)。本章主要介紹電阻抗成像技術(shù)理論,生物電阻抗測(cè)量系統(tǒng)原理以及生物電阻抗測(cè)量系統(tǒng)中弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)理論,分
4.2.3可編程增益放大電路模塊高速數(shù)據(jù)采集的前端信號(hào),是頻率和電壓不確定的模擬信號(hào)。因?yàn)楣潭ㄔ鲆鎸⑹沟么笮盘?hào)進(jìn)入非線性工作區(qū)且可能導(dǎo)致放大信號(hào)超出數(shù)據(jù)采集的量程范圍而出現(xiàn)信號(hào)被削平的現(xiàn)象,或者使得小信號(hào)放大不足,不能使放大信號(hào)達(dá)到或接近數(shù)據(jù)采集的量程范圍而產(chǎn)生較大的量化誤差。同時(shí)在儀器儀表中所要測(cè)
力科的信號(hào)完整性網(wǎng)絡(luò)分析儀SPARQ可快速定位連接器,背板和電纜的串?dāng)_,可使用單端或差分端口分配來測(cè)量近端串?dāng)_(NEXT,next-end crosstalk)或遠(yuǎn)端串?dāng)_(FEXT, far-end cross talk)。SI工程師可使用8端口或12端口的SPARQ(型號(hào)是SPARQ-3008E
0 引言 這篇論文介紹了工業(yè)信號(hào)的產(chǎn)生與測(cè)量原理,主要研究了基于TI公司MSP430F42x的工業(yè)信號(hào)的產(chǎn)生與測(cè)量?jī)x表的設(shè)計(jì)。 工業(yè)信號(hào)的產(chǎn)生與測(cè)量?jī)x表在生產(chǎn)過程系統(tǒng)中是非常重要的檢測(cè)儀表,可模擬輸出多種工業(yè)控制過程測(cè)控中所需的檢測(cè)信號(hào),同時(shí)也可測(cè)量這些工業(yè)控制過程中產(chǎn)生的信號(hào),其大量用于工
電路功能與優(yōu)勢(shì) 理想情況下,無線測(cè)量節(jié)點(diǎn)具有低功耗、長(zhǎng)距離特點(diǎn),易于與不同傳感器接口。通過配合使用ADI公司的三款器件,可以實(shí)現(xiàn)平均電流消耗《70 A、距離接近1 km(無障礙)、數(shù)據(jù)速率達(dá)到每分鐘一次傳輸?shù)闹悄軠y(cè)量節(jié)點(diǎn),同時(shí)維持16位ADC性能(見圖1),使電路適合電池供電和自動(dòng)化、遠(yuǎn)程檢測(cè)等應(yīng)
[導(dǎo)讀] 工件表面粗糙度過大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無法接收到回波信號(hào)。工件曲率半徑太小,尤其是小徑管測(cè)厚時(shí),因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸,聲強(qiáng)透射率低(耦合不好)。 關(guān)鍵詞:超聲波測(cè)厚儀測(cè)量
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在普通環(huán)境下進(jìn)行預(yù)兼容測(cè)量存在背景噪音,而且被測(cè)設(shè)備產(chǎn)生的電磁信號(hào)可能會(huì)被環(huán)境中的背景噪聲所調(diào)制。因此,如果想在普通環(huán)境下測(cè)量被測(cè)設(shè)備(EUT)的電磁輻射,就必須設(shè)法消除背景噪聲的干擾。汽車電子企業(yè),由于產(chǎn)品本身體積很小,但是又需要和整車一起進(jìn)行EMC測(cè)量,因此在建設(shè)EMC測(cè)量手段時(shí),需要慎重考慮。
天線方向圖遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量的收發(fā)距離在理論上需要達(dá)到無窮遠(yuǎn),以便發(fā)射源天線在被測(cè)天線口徑上的照射是理想的平面波,也即幅度均勻、相位同相。天線專業(yè)的實(shí)際應(yīng)用中,幅度為了滿足一定的均勻性(也即錐削度)需要降低源天線的方向性或者增加測(cè)量距離;相位為了滿足一定的同相要求必需增加測(cè)量距離。遠(yuǎn)場(chǎng)的最小距離準(zhǔn)則主要是根據(jù)
1.引言 在電子儀器、儀表的制造及使用行業(yè),有大量的印刷電路板需要調(diào)試、測(cè)量與維修,需要對(duì)電阻電容的數(shù)值進(jìn)行測(cè)試。 本文介紹了一種基于AT89C51單片機(jī)和555定時(shí)器的數(shù)顯式電阻和電容測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案,然后制作出電路實(shí)物,實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的功能。系統(tǒng)利用555定時(shí)器和待測(cè)電阻(或電容)組成多諧振蕩
示波器主要用于測(cè)量電流和電壓,然后通過一系列魔術(shù)般的數(shù)學(xué)公式就可以計(jì)算出功率。遺憾的是,功率有許多種類:瞬時(shí)功率、有功功率、視在功率和無功功率。這么多的功率術(shù)語經(jīng)常讓人感到困惑。本文介紹了如何在Teledyne LeCroy HDO 6000示波器上使用功率分析軟件包獲得功率值,不再需要費(fèi)勁地做正
一、概述隨著科技的不斷發(fā)展,無論在航天、航空、航海、通訊等方面都離不開對(duì)信號(hào)頻譜的分析。頻譜分析儀主要用于頻譜分析,也可測(cè)量頻率、電平、衰減、調(diào)制、失真、抖動(dòng)等,還廣泛應(yīng)用于通訊、雷達(dá)、導(dǎo)航、電子對(duì)抗、空間技術(shù)、衛(wèi)星地面站、頻率管理、信號(hào)監(jiān)測(cè)、EMI診斷、E M C測(cè)量等方面,是發(fā)揮軍用電子元器件、
工業(yè)使用的儀器,使用一定時(shí)期后,將滿足產(chǎn)品老化,老化的試驗(yàn)和環(huán)境試驗(yàn),它可以檢測(cè)早期文書的一個(gè)潛在故障,準(zhǔn)備的解決方案和解決方案,尤其是可以發(fā)現(xiàn)的常見故障,所以相同的儀器設(shè)備早期通過修改電路和方法恢復(fù),有助于提高耐久性和可靠性的工具。 1、老化測(cè)試: 一般的老化測(cè)試時(shí)對(duì)部分儀器儀表進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間
0 引言 發(fā)動(dòng)機(jī)溫度場(chǎng)的測(cè)試是指對(duì)壁面溫度與高溫燃?xì)鉁u輪發(fā)動(dòng)機(jī)燃燒室的熱端部件的測(cè)量。發(fā)動(dòng)機(jī)熱端部件的使用壽命的長(zhǎng)短與熱端部件溫度場(chǎng)的分布是否均勻有密切關(guān)系,因此必須對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)溫度場(chǎng)進(jìn)行準(zhǔn)確地測(cè)試。 1 研究現(xiàn)狀 目前,國內(nèi)發(fā)動(dòng)機(jī)生產(chǎn)和修理企業(yè)測(cè)試發(fā)動(dòng)機(jī)某些零部件的溫度場(chǎng)主要有直接接觸法和人工判