自動化測試設備是現(xiàn)今消費性電子產(chǎn)品、通訊、醫(yī)療設備等許多產(chǎn)業(yè)賴以進行檢測晶片功能規(guī)格、確保終端產(chǎn)品品質的工具。伴隨著智能產(chǎn)品的不斷推出，使得測試過程要求更加嚴格。愛德萬測試為全球半導體產(chǎn)業(yè)最大自動化測試設備供應商，致力于提供為客戶提供先進測試系統(tǒng)。

近年來手機、Memory以及虛擬貨幣市場的爆發(fā)，使得芯片測試需求增加。愛德萬測試管理有限公司VP夏克金博士表示：“為了面對新興領域的發(fā)展趨勢，愛德萬測試在5G、IoT、數(shù)據(jù)中心、云測試服務等方面都做了相應的方案。”與此同時，為了服務更多的有測試需要的人群，愛德萬測試還推出了愛德萬測試大學計劃，用視頻教育來幫助學生們了解測試過程。

(愛德萬測試管理有限公司VP 夏克金 博士)

在本次發(fā)布會中，不僅有夏博士為我們介紹了目前愛德萬測試公司的發(fā)展情況，還有工程師為我們介紹了愛德萬測試的新產(chǎn)品。

PCIe Gen 4 SSD解決方案——MPT3000平臺

由于SSD是高性能企業(yè)和數(shù)據(jù)中心應用程序選用的專門存儲媒介，所以現(xiàn)在PCIe在SSDs中發(fā)揮的作用變得更加重要。然而，低價位的非易失性存儲器耐久性有限，而且因為生產(chǎn)技術也在不斷更新，因此制造了巨大的挑戰(zhàn)。對此，愛德萬測試推出了業(yè)界第一個完全集成的固態(tài)硬盤測試解決方案——MPT3000 平臺。

愛德萬測試管理有限公司高級測試應用工程師Kelvin Chen介紹：“ MPT3000平臺現(xiàn)在可以覆蓋 PCIe Gen 4設備的所有測試需求，用戶可以在 MPT3000 上直接開發(fā) PCIE Gen4，而不用等待第三方廠商提供測試方案。同時，該方案也兼容 PCIe Gen 3、SATA 和 SAS 等協(xié)議的固態(tài)硬盤的測試開發(fā)以及量產(chǎn)。”

MPT3000平臺向用戶提供一套從設計到制造的測試流程，并使用與愛德萬測試已經(jīng)投入市場的 PCIe Gen 3解決方案相同的測試架構和軟件，從而簡化了向下一代產(chǎn)品升級的過程。

V93000測試系統(tǒng)再升級， 搭載FVI16高功率板卡

在汽車電子領域，隨著越來越多的廠商陸續(xù)將智能汽車的概念付諸現(xiàn)實，汽車中用到的高功率器件越來越多，廠商該怎樣保障其安全。除此之外，在工業(yè)控制，大功率快速充電等領域對高電壓、大電流的需求等都對測試設備提出了新要求。對此，愛德萬測試本次推出了FVI16高功率板卡來替換之前的PVI8板卡，新款板卡將PVI8板卡8個浮動的獨立通道提升至16個，有效地降低了測試成本和測試時間。

愛德萬測試管理有限公司高級測試工程師Dynax Chen介紹：“與采用傳統(tǒng)模擬反饋的其它測試系統(tǒng)相比，搭載 FVI16 板卡的 V93000 測試系統(tǒng)的數(shù)字反饋回路設計提供了市場上最佳的信號源，測量精度和模擬功率性能。 數(shù)字反饋技術提供多種獨特功能，包括無毛刺的“智能連接”和恒定的開爾文監(jiān)控，實現(xiàn)可靠的和高精度的測量。用戶控制的斜率和帶寬設置可以實現(xiàn)快速建立穩(wěn)定時間以適應各自的負載條件。”

高速存儲器芯片測試系統(tǒng)T5503HS2

存儲器芯片是一種應用廣泛的數(shù)字集成電路，必須經(jīng)過許多必要的測試以保證其功能正確。對于其入廠檢測來說，測試向量不僅要自行開發(fā)，而且需要達到一定的覆蓋率才能檢測出存儲器的絕大部分功能性錯誤，這對測試方法、測試設備提出了較高的要求。

愛德萬測試的 T5503HS2 是設計用于提供針對新型存儲器和現(xiàn)有器件的測試解決方案。該測試系統(tǒng)在測試下一代 LP-DDR5和DDR5器件的同時也允許使用者兼容測試現(xiàn)今的 DDR4，LP-DDR4及高帶寬存儲器器件，實現(xiàn)了半導體業(yè)界最高的同測數(shù)和最優(yōu)利潤率。配置的 4.5GHz 高速時鐘選配模塊使新測試機擁 有了以超過 8 Gbps 的數(shù)據(jù)傳輸速率來應對未來存儲器芯片測試的可擴展性。

科技發(fā)展，產(chǎn)品升級，測試設備已經(jīng)準備好了迎接未來的智能時代。