主流類型：架構(gòu)差異與性能側(cè)重

A/D 轉(zhuǎn)換器按工作原理可分為逐次逼近型、積分型、流水線型、Σ-Δ 型等多種類型，不同架構(gòu)在速度、精度、功耗等方面各有側(cè)重，適用于不同應(yīng)用場景。

逐次逼近型 A/D 轉(zhuǎn)換器（SAR ADC）

逐次逼近型是中小型嵌入式系統(tǒng)中最常用的類型，其核心是通過 “二分法” 逐步逼近輸入電壓。電路由比較器、D/A 轉(zhuǎn)換器（DAC）、逐次逼近寄存器（SAR）組成，工作流程如下：

轉(zhuǎn)換開始時，SAR 最高位置 1，其余位為 0，DAC 輸出對應(yīng)電壓（Vref/2）；

比較器將輸入電壓與 DAC 輸出比較，若輸入電壓更高，則保留最高位 1，否則清零；

依次對次高位、低位重復(fù)上述過程，直至所有位判斷完畢，SAR 中的值即為轉(zhuǎn)換結(jié)果。

8 位 SAR ADC 的轉(zhuǎn)換時間約為 1μs，16 位約為 10μs，屬于中速轉(zhuǎn)換器，精度適中（8~16 位），功耗較低（通常 mW 級），適合傳感器數(shù)據(jù)采集（如溫度、濕度）、電池供電設(shè)備等場景。其優(yōu)勢是結(jié)構(gòu)簡單、成本低，缺點是轉(zhuǎn)換速度受位數(shù)限制，難以實現(xiàn)高速轉(zhuǎn)換（>1MHz）。

積分型 A/D 轉(zhuǎn)換器（雙積分 ADC）

積分型 ADC 通過測量輸入信號在固定時間內(nèi)的積分值實現(xiàn)轉(zhuǎn)換，具有極強的抗干擾能力，尤其適合工頻（50Hz/60Hz）環(huán)境下的精密測量。其工作過程分為兩個階段：

采樣階段：開關(guān)接輸入信號，積分器對輸入電壓 Vin 積分固定時間 T1，輸出電壓 V1=-(1/RC)∫Vin dt（0~T1）；

比較階段：開關(guān)接反向參考電壓 Vref，積分器反向積分，同時計數(shù)器開始計數(shù)，直到積分器輸出為 0，計數(shù)時間 T2 與 Vin 成正比（T2=Vin×T1/Vref），通過 T2 計算輸入電壓。

積分型 ADC 的轉(zhuǎn)換精度高（12~24 位），對高頻噪聲和電源干擾抑制能力強（抑制比可達 100dB 以上），但轉(zhuǎn)換速度慢（通常 < 1kHz），適合萬用表、電能表等對精度要求高但速度要求低的設(shè)備。

流水線型 A/D 轉(zhuǎn)換器（Pipelined ADC）

流水線型 ADC 采用多級級聯(lián)結(jié)構(gòu)，每級完成部分量化（如 2~4 位），通過流水線操作實現(xiàn)高速轉(zhuǎn)換。第一級對輸入信號進行粗量化并輸出 2 位結(jié)果，同時產(chǎn)生殘差信號（輸入與粗量化值的差值）傳遞給下一級；后續(xù)各級重復(fù)此過程，最終通過數(shù)字校正電路合并各級結(jié)果，得到完整的高分辨率輸出。

這種架構(gòu)的轉(zhuǎn)換速度極快（采樣率可達 100MHz~1GHz），精度較高（10~16 位），但功耗較大（通常 > 100mW），適合高速數(shù)據(jù)采集（如通信基站、雷達信號處理）。其核心優(yōu)勢是通過流水線并行操作突破單級轉(zhuǎn)換速度限制，每級轉(zhuǎn)換時間可短至 ns 級。