整合 TITAN? 探針技術(shù)與晶圓級測量專長，開啟新一代半導(dǎo)體與次太赫茲應(yīng)用精密測試新篇章

新竹2025年9月15日 /美通社/ -- 全球領(lǐng)先的先進半導(dǎo)體測試解決方案廠商旺矽科技股份有限公司（MPI Corporation，以下簡稱“旺矽科技”）宣布，正式推出可支持是德科技（Keysight Technologies，以下簡稱“是德科技”）全新 NA5305A/7A PNA-X 頻率擴頻器的全集成 250 GHz 寬帶測試解決方案。該方案結(jié)合旺矽在次太赫茲探測技術(shù)與晶圓級測量領(lǐng)域的深厚經(jīng)驗，搭配 TITAN? 射頻探針及探針臺平臺，提供業(yè)界領(lǐng)先的高達 250 GHz 寬帶 S 參數(shù)測試能力。

專為是德科技PNA-X擴頻器打造的旺矽TITAN? 250 GHz探針

這一最新里程碑凝聚了旺矽科技在高頻測試領(lǐng)域的深厚技術(shù)積累，包括早期突破 200 GHz 寬帶探針測試極限的解決方案。同時，這也彰顯了與是德科技的深度合作，通過將業(yè)界領(lǐng)先的測試儀器與旺矽先進的晶圓級測試方案相結(jié)合，以滿足快速增長的次太赫茲測試需求。

旺矽科技先進半導(dǎo)體測試（AST）事業(yè)部總經(jīng)理 Stojan Kanev 表示：
“旺矽是首家實現(xiàn)高達 250 GHz 實時單次掃描校準(zhǔn)，并支持單端/差分晶圓級測試的企業(yè)。這一成就建立在我們在 200 GHz 以上寬帶晶圓特性表征領(lǐng)域多年驗證的解決方案與卓越業(yè)績之上。全新的 250 GHz 解決方案結(jié)合 TITAN? 探針技術(shù)與系統(tǒng)集成優(yōu)勢，能夠提供穩(wěn)定可重復(fù)的測試結(jié)果、清晰的探針尖端可見性，以及確保安全簡便操作的保護設(shè)計，幫助工程師節(jié)省時間、保護系統(tǒng)并實現(xiàn)最佳性能。”

專為次太赫茲精度打造
該250 GHz解決方案包括旺矽科技TITAN?單端式T250MAK與差分式T250MSK探針，采用全新 0.5 毫米寬帶同軸接口，分別針對寬帶器件表征與高速差分測試而設(shè)計。探針具備以下特點：

• 在全頻段范圍內(nèi)實現(xiàn)超低插入損耗與優(yōu)異回波損耗
• 獨特的針尖可視設(shè)計與卓越機械穩(wěn)定性，確保精準(zhǔn)對位、接觸可靠與數(shù)據(jù)一致
• 伸縮式探針尖端保護裝置設(shè)計，保障操作安全
• 提供單端（GSG）與差分（GSGSG）配置，優(yōu)化適配不同器件需求

TITAN? T250系列探針可與旺矽科技全系列探針臺平臺完美集成，支持溫控晶圓級測量，最大程度減少人工操作，確保系統(tǒng)的最佳重復(fù)性。

是德科技觀點
是德科技產(chǎn)品經(jīng)理 David Tanaka 表示：“旺矽科技在高頻晶圓探針技術(shù)的持續(xù)創(chuàng)新，對擴展我們寬帶矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀平臺的測試能力至關(guān)重要。他們的 TITAN? 探針提供了實現(xiàn)我們 250 GHz 解決方案所需的精度、重復(fù)性和系統(tǒng)級集成能力。本次合作將有助于我們因應(yīng)日益增長的次太赫茲先進測試需求。”

滿足半導(dǎo)體創(chuàng)新者不斷演進的技術(shù)需求 
隨著人工智能、5G/6G 及高速光通信推動半導(dǎo)體性能不斷提升，測試測量工具必須同步演進。旺矽科技 250 GHz 寬帶測試系統(tǒng)應(yīng)運而生，具備以下優(yōu)勢：

• 支持最高達250 GHz的全校準(zhǔn)單掃描寬頻S參數(shù)測量
• 支持調(diào)制寬頻及非線性測量能力
• 可與主流測試儀器無縫集成，構(gòu)建完整測試鏈

旺矽科技最新解決方案已在多家核心客戶與合作伙伴的評估環(huán)境中部署，并在臺灣地區(qū)與美國設(shè)有演示系統(tǒng)。該解決方案計劃于 2025 年在荷蘭烏得勒支舉辦的歐洲微波周（EuMW）上全球首發(fā)并進行現(xiàn)場演示。