單體短路測(cè)試：按照GBT31485的要求為，短路電阻<5毫歐，時(shí)間10分鐘。實(shí)際需要根據(jù)電池的最小單元連接情況來增加對(duì)此情況的模擬。

和老大商量近期的工作重點(diǎn)，短期內(nèi)能做出點(diǎn)成績(jī)來的，主要是集中在電氣系統(tǒng)上面。所以從高壓線束、電子控制的硬件電路、配電盒還有一些保護(hù)策略性的內(nèi)容開始，我把簡(jiǎn)單的內(nèi)容梳理下，然后進(jìn)一步應(yīng)用到工作里面。如下圖所示，電氣系統(tǒng)里面的影響是挺大的，而且很多內(nèi)容也是電池系統(tǒng)設(shè)計(jì)過程中，電氣部分需要設(shè)計(jì)承受的。

圖1 電池系統(tǒng)電氣層級(jí)一些問題

如之前的表格里面所說的，短路/過流嚴(yán)格意義上是指各個(gè)層級(jí)（單體、模組、半包和電池整包）超過額定的放電設(shè)計(jì)出現(xiàn)過多的情況。

表1 功能失效問題

圖2 各個(gè)層級(jí)的短路要求

電池系統(tǒng)短路測(cè)試： 按照GBT31476.3，短路電阻<20毫歐，短路10分鐘。

MSD分?jǐn)喟氚鼫y(cè)試：此項(xiàng)內(nèi)容，主要考慮一個(gè)極端情況，在MSD內(nèi)系統(tǒng)熔絲不起作用的條件下看整個(gè)設(shè)計(jì)的情況。

模組的短路測(cè)試：按照GBT31485的要求為，短路電阻<5毫歐，時(shí)間10分鐘。

單體短路測(cè)試：按照GBT31485的要求為，短路電阻<5毫歐，時(shí)間10分鐘。實(shí)際需要根據(jù)電池的最小單元連接情況來增加對(duì)此情況的模擬。

表2 現(xiàn)有國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)和未來GB此項(xiàng)功能試驗(yàn)內(nèi)容分配