在LED電源產(chǎn)品的設(shè)計(jì)過程中，工程師們需要處理的絕不僅僅是電路設(shè)計(jì)問題，更多的是LED電源的驅(qū)動方案選擇、LED的壽命維系以及后期的維護(hù)和檢修工作等。今天小編特別整理了一些在LED檢修和LED電源設(shè)計(jì)過程中的實(shí)用經(jīng)驗(yàn)，通過問答的形式與各位新人工程師們一起分享，下面就讓我們一起來看看吧。

第一個(gè)問題：在設(shè)計(jì)LED電源產(chǎn)品時(shí)，怎么做才能設(shè)計(jì)出高品質(zhì)LED驅(qū)動電路呢？

相信很多從事LED電源設(shè)計(jì)的工程師們都非常清楚，LED是目前世界上所研發(fā)的一種長壽命的電子元件，理想狀況下的LED其工作壽命可達(dá)50000小時(shí)，但應(yīng)用電路設(shè)計(jì)不合理、LED電源散熱性設(shè)計(jì)不好等因素，都會影響它的使用壽命。而面對這一問題，使用能夠省去電解電容器的新一代LED驅(qū)動IC，是一種切實(shí)可行的解決方案。

對于從事LED電源及周邊產(chǎn)品研發(fā)的工程師們來說，在設(shè)計(jì)新一代的驅(qū)動IC時(shí)，必須要打破以往傳統(tǒng)的DC-DC拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)思維，可以采用恒功率、摒棄磁滯控制的降壓型設(shè)計(jì)思路來進(jìn)行新產(chǎn)品研發(fā)，采用定頻定電流控制也是一個(gè)好辦法。除此之外，高品質(zhì)的LED驅(qū)動電路電路應(yīng)力求簡潔，減少元器件的使用數(shù)量，并有效提高PWM控制器的占空比等。滿足以上條件，所設(shè)計(jì)的新一代驅(qū)動IC才能夠滿足高品質(zhì)驅(qū)動電路的設(shè)計(jì)需求。

第二個(gè)問題：LED被靜電擊穿的原理是什么樣子的?造成擊穿的原理是怎么回事呢？

在進(jìn)行LED電源的調(diào)試過程中，相信工程師們都曾經(jīng)遇到過接通樣機(jī)后，LED元件被擊穿的情況，這其中有相當(dāng)一部分是被靜電所擊穿的。LED作為一種半導(dǎo)體，其本身的PN結(jié)是直接裸露在外頭的，很容易接觸靜電。當(dāng)LED兩個(gè)電極上極性不同的電荷積累到一定的程度，又得不到及時(shí)釋放時(shí)，此時(shí)電荷能量一旦超過LED芯片最大承受值，電荷將以極短的瞬間在LED兩個(gè)電極層之間進(jìn)行放電，并在導(dǎo)電層之間局部會形成1400℃以上的高溫，高溫將會把導(dǎo)電層之間熔融成一些小孔，這就是我們在LED電源測試過程中，常遇到的LED擊穿現(xiàn)象了。

在進(jìn)行LED電源的新產(chǎn)品樣機(jī)測試時(shí)，一旦遇到LED元件被靜電擊穿的現(xiàn)象，說明所設(shè)計(jì)的電路中有不合理的因素存在，此時(shí)工程師需要及時(shí)的進(jìn)行電路設(shè)計(jì)調(diào)整并重新測試。