作為電源行業(yè)值得信賴的測(cè)試專家，泰克為工程師在電源設(shè)計(jì)各個(gè)階段提供可靠的解決方案，使工程師堅(jiān)定每一步設(shè)計(jì)，優(yōu)化每個(gè)階段設(shè)計(jì)，從而加速新產(chǎn)品的上市周期。

對(duì)市場(chǎng)新推出的低功耗 IC 及功率器件特性無法準(zhǔn)確把握?是否真正在自己的電源設(shè)計(jì)中發(fā)揮最大的作用，缺少一種簡單經(jīng)濟(jì)的評(píng)價(jià)方法。對(duì)于電源產(chǎn)品設(shè)計(jì)，大功率開關(guān)管的選擇是非常關(guān)鍵也是非常困難的。 如何在系統(tǒng)調(diào)試之前對(duì) IGBT 模塊特性進(jìn)行測(cè)試，尤其基于橋式拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，在不同的負(fù)載條件測(cè)試 IGBT 及相應(yīng)的二極管的特性?這些成為工程師非常頭疼的問題。

功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù) / 雙脈沖測(cè)試

功率器件如 MOSFET 和 IGBT 提供了快速開關(guān)速度，能夠耐受沒有規(guī)律的電壓峰值，被廣泛應(yīng)用于電源轉(zhuǎn)換產(chǎn)品的設(shè)計(jì)。尤其最新第三代半導(dǎo)體 SiC 和 GaN 快速發(fā)展和應(yīng)用可以毫不夸張的說給電源行業(yè)帶來顛覆性的變化。對(duì)于設(shè)計(jì)工程師來說卻帶來了非常大的測(cè)試挑戰(zhàn)，如何保證選用的高速功率器件能穩(wěn)定可靠的運(yùn)行在自己的電源產(chǎn)品中，我們需要了解功率器件的動(dòng)態(tài)特性：

器件在不同溫度的特性

短路特性和短路關(guān)斷

柵極驅(qū)動(dòng)特性

關(guān)斷時(shí)過電壓特性

二極管回復(fù)特性

開關(guān)損耗測(cè)試等

泰克推出了 IGBT Town 功率器件支持單脈沖，雙脈沖及多脈沖測(cè)試方案，集成強(qiáng)大的發(fā)生裝置，數(shù)據(jù)測(cè)試裝置及軟件。用戶可以自定義測(cè)試條件，測(cè)試項(xiàng)目包含：Toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on),tr(Ic), Eon, di/dt, dv/dt, Err, qrr, Irr based on IEC60747。推薦解決方案：MSO54 + 5-wins + 5-PWR + TIVM02 + TIVH08 + TCP0030A + IGBT town 軟件。

采用雙脈沖法，用信號(hào)發(fā)生器設(shè)置脈寬為 1uS，周期為 2.5uS，脈沖次數(shù)為 2 次，示波器采用單次觸發(fā)。

采用 MSO58 功率器件分析功能可以直接得出 CoolGaN?的動(dòng)態(tài)參數(shù)。左下的測(cè)試提示 Ic off 是因?yàn)橛w凌的 CoolGaN?完全沒有反向恢復(fù)電流，從測(cè)試數(shù)據(jù)中可以看到基于英飛凌的 CoolGaN?專用驅(qū)動(dòng) 1EDF5673K 下的 CoolGaN? IGO60R070D1 速度還是非?？斓?，而且完全沒有反向恢復(fù)損耗。

從測(cè)試結(jié)果可以看出該方案特點(diǎn)：

可靠、可重復(fù)地測(cè)試 IGBT 及 MOSFET(包括第三代半導(dǎo)體器件 SiC、GaN)功率半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)特征;

測(cè)量的特征包括開啟、關(guān)閉、開關(guān)切換、反向恢復(fù)、柵極驅(qū)動(dòng)，開關(guān)損耗等參數(shù);

適用于用戶對(duì)測(cè)試環(huán)境的自定義;

全部使用泰克示波器及原廠電源探頭，可準(zhǔn)確補(bǔ)償探頭延遲，專用的開關(guān)損耗算法，提供可靠的測(cè)試結(jié)果;

獨(dú)特的 IsoVu 探頭，最高 800MHz 帶寬高達(dá) 120dB 共模抑制比，準(zhǔn)確測(cè)試驅(qū)動(dòng)信號(hào)的真實(shí)情況。

高功率半導(dǎo)體器件檢定測(cè)試

開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管及其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。Keithley 高功率參數(shù)化曲線跟蹤儀支持所有的器件類型和測(cè)試參數(shù)。Keithley 高功率參數(shù)化曲線跟蹤儀包括檢定工程師快速開發(fā)全面測(cè)試系統(tǒng)所需的一切。ACS-Basic 基本版軟件提供了完整的器件特性分析，包括實(shí)時(shí)跟蹤模式及全部參數(shù)模式，實(shí)時(shí)跟蹤模式用來迅速檢查基礎(chǔ)器件參數(shù)，如擊穿電壓;全部參數(shù)模式用來提取精確的器件參數(shù)。

測(cè)試平臺(tái)搭建

Keithley 提供完整解決方案

從實(shí)驗(yàn)室到工廠，從晶圓級(jí)到獨(dú)立封裝器件，從測(cè)試設(shè)置到分析結(jié)果，為最優(yōu)性價(jià)比設(shè)計(jì)的一體化完整解決方案。從實(shí)驗(yàn)室科研級(jí)別的單臺(tái) SMU 源表到適用于高功率半導(dǎo)體器件檢定的完整測(cè)試方案，再到適用于自動(dòng)晶片級(jí)測(cè)試系統(tǒng)，Keithley 均能為您提供最優(yōu)性價(jià)比的完整解決方案。其方案配置如下：

硬件：上至 3kV/100A 的功率電平，下至 uV/fA 級(jí)別小信號(hào)的寬動(dòng)態(tài)范圍;(SMU, 4200，PCT，S500 多硬件平臺(tái)覆蓋) ;

軟件：ACS-Basic 支持各種 Keithley 儀器，用于半導(dǎo)體器件檢定、可靠性測(cè)試、參數(shù)化測(cè)試以及元器件功能測(cè)試;

夾具：傳統(tǒng)連線測(cè)試夾具、8010 高功率器件測(cè)試夾具、手動(dòng) / 自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái) 。

你的難點(diǎn)痛點(diǎn)，是我們的著力點(diǎn)。作為電源行業(yè)值得信賴的測(cè)試專家，泰克為工程師在電源設(shè)計(jì)各個(gè)階段提供可靠的解決方案，使工程師堅(jiān)定每一步設(shè)計(jì)，優(yōu)化每個(gè)階段設(shè)計(jì)，從而加速新產(chǎn)品的上市周期。