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[導(dǎo)讀]作為電源行業(yè)值得信賴的測試專家,泰克為工程師在電源設(shè)計各個階段提供可靠的解決方案,使工程師堅定每一步設(shè)計,優(yōu)化每個階段設(shè)計,從而加速新產(chǎn)品的上市周期。

作為電源行業(yè)值得信賴的測試專家,泰克為工程師在電源設(shè)計各個階段提供可靠的解決方案,使工程師堅定每一步設(shè)計,優(yōu)化每個階段設(shè)計,從而加速新產(chǎn)品的上市周期。

對市場新推出的低功耗 IC 及功率器件特性無法準(zhǔn)確把握?是否真正在自己的電源設(shè)計中發(fā)揮最大的作用,缺少一種簡單經(jīng)濟(jì)的評價方法。對于電源產(chǎn)品設(shè)計,大功率開關(guān)管的選擇是非常關(guān)鍵也是非常困難的。 如何在系統(tǒng)調(diào)試之前對 IGBT 模塊特性進(jìn)行測試,尤其基于橋式拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),在不同的負(fù)載條件測試 IGBT 及相應(yīng)的二極管的特性?這些成為工程師非常頭疼的問題。

功率器件動態(tài)參數(shù) / 雙脈沖測試

功率器件如 MOSFET 和 IGBT 提供了快速開關(guān)速度,能夠耐受沒有規(guī)律的電壓峰值,被廣泛應(yīng)用于電源轉(zhuǎn)換產(chǎn)品的設(shè)計。尤其最新第三代半導(dǎo)體 SiC 和 GaN 快速發(fā)展和應(yīng)用可以毫不夸張的說給電源行業(yè)帶來顛覆性的變化。對于設(shè)計工程師來說卻帶來了非常大的測試挑戰(zhàn),如何保證選用的高速功率器件能穩(wěn)定可靠的運(yùn)行在自己的電源產(chǎn)品中,我們需要了解功率器件的動態(tài)特性:

器件在不同溫度的特性

短路特性和短路關(guān)斷

柵極驅(qū)動特性

關(guān)斷時過電壓特性

二極管回復(fù)特性

開關(guān)損耗測試等

泰克推出了 IGBT Town 功率器件支持單脈沖,雙脈沖及多脈沖測試方案,集成強(qiáng)大的發(fā)生裝置,數(shù)據(jù)測試裝置及軟件。用戶可以自定義測試條件,測試項目包含:Toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on),tr(Ic), Eon, di/dt, dv/dt, Err, qrr, Irr based on IEC60747。推薦解決方案:MSO54 + 5-wins + 5-PWR + TIVM02 + TIVH08 + TCP0030A + IGBT town 軟件。

采用雙脈沖法,用信號發(fā)生器設(shè)置脈寬為 1uS,周期為 2.5uS,脈沖次數(shù)為 2 次,示波器采用單次觸發(fā)。

采用 MSO58 功率器件分析功能可以直接得出 CoolGaN?的動態(tài)參數(shù)。左下的測試提示 Ic off 是因為英飛凌的 CoolGaN?完全沒有反向恢復(fù)電流,從測試數(shù)據(jù)中可以看到基于英飛凌的 CoolGaN?專用驅(qū)動 1EDF5673K 下的 CoolGaN? IGO60R070D1 速度還是非常快的,而且完全沒有反向恢復(fù)損耗。

從測試結(jié)果可以看出該方案特點:

可靠、可重復(fù)地測試 IGBT 及 MOSFET(包括第三代半導(dǎo)體器件 SiC、GaN)功率半導(dǎo)體動態(tài)特征;

測量的特征包括開啟、關(guān)閉、開關(guān)切換、反向恢復(fù)、柵極驅(qū)動,開關(guān)損耗等參數(shù);

適用于用戶對測試環(huán)境的自定義;

全部使用泰克示波器及原廠電源探頭,可準(zhǔn)確補(bǔ)償探頭延遲,專用的開關(guān)損耗算法,提供可靠的測試結(jié)果;

獨特的 IsoVu 探頭,最高 800MHz 帶寬高達(dá) 120dB 共模抑制比,準(zhǔn)確測試驅(qū)動信號的真實情況。

高功率半導(dǎo)體器件檢定測試

開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管及其他大功率器件,需要全面的器件級檢定,如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。Keithley 高功率參數(shù)化曲線跟蹤儀支持所有的器件類型和測試參數(shù)。Keithley 高功率參數(shù)化曲線跟蹤儀包括檢定工程師快速開發(fā)全面測試系統(tǒng)所需的一切。ACS-Basic 基本版軟件提供了完整的器件特性分析,包括實時跟蹤模式及全部參數(shù)模式,實時跟蹤模式用來迅速檢查基礎(chǔ)器件參數(shù),如擊穿電壓;全部參數(shù)模式用來提取精確的器件參數(shù)。

測試平臺搭建

Keithley 提供完整解決方案

從實驗室到工廠,從晶圓級到獨立封裝器件,從測試設(shè)置到分析結(jié)果,為最優(yōu)性價比設(shè)計的一體化完整解決方案。從實驗室科研級別的單臺 SMU 源表到適用于高功率半導(dǎo)體器件檢定的完整測試方案,再到適用于自動晶片級測試系統(tǒng),Keithley 均能為您提供最優(yōu)性價比的完整解決方案。其方案配置如下:

硬件:上至 3kV/100A 的功率電平,下至 uV/fA 級別小信號的寬動態(tài)范圍;(SMU, 4200,PCT,S500 多硬件平臺覆蓋) ;

軟件:ACS-Basic 支持各種 Keithley 儀器,用于半導(dǎo)體器件檢定、可靠性測試、參數(shù)化測試以及元器件功能測試;

夾具:傳統(tǒng)連線測試夾具、8010 高功率器件測試夾具、手動 / 自動探針測試臺 。

你的難點痛點,是我們的著力點。作為電源行業(yè)值得信賴的測試專家,泰克為工程師在電源設(shè)計各個階段提供可靠的解決方案,使工程師堅定每一步設(shè)計,優(yōu)化每個階段設(shè)計,從而加速新產(chǎn)品的上市周期。

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