DB HiTek宣布， 公司已開發(fā)出基于110納米的全局快門（global shutter）和單光子雪崩二極管 (SPAD:single-photon avalanche diode)工藝，并將擴展其圖像傳感器市場。

全局快門能同時感應所有像素的圖像信息，即使在拍攝快速移動的物體時，也能準確記錄視頻和圖像而不會失真。此外，全局快門還能高度精確地識別物體形態(tài)。近來，全局快門廣泛應用于工業(yè)機器視覺，此外還適用于汽車、無人機和機器視覺檢測用相機等各種應用。

DB HiTek的全局快門基于110nm BSI工藝，并采用了遮光罩(light shield)和導光(light guide)技術。 擁有99.99%的全局快門效率(GSE)性能，并且能支持最小至2.8um的多種像素尺寸。

單光子雪崩二極管(SPAD)是一種傳感技術，可以檢測到單光子水平的弱光信號。SPAD能夠識別從物體反射的光線到達傳感器的飛行時間(ToF)，從而測量出與物體之間的距離。憑借長距離和高精度優(yōu)勢，SPAD被積極應用于車載激光雷達(LiDAR)或 ToF 領域，同時也適用于智能手機、AR/VR可穿戴設備、監(jiān)控攝像頭和工業(yè)機器視覺等各種應用。

DB HiTek以110納米FSI工藝為基礎，確保了3.8%的@905納米光子探測概率 (PDP)性能，公司還計劃在今年內實現(xiàn)BSI工藝，并完成PDP 7%@905納米的開發(fā)。

為了協(xié)助無晶圓廠客戶按時進入市場并提高產品競爭力，DB HiTek將在今年9月提供專門為全球快門和SPAD運營的MPW(multi project wafer)服務。