芯片中測(cè)試（test）和驗(yàn)證(verification)有什么不同 ?

時(shí)間：2021-11-12 14:16:55

關(guān)鍵字：芯片 ic

手機(jī)看文章

掃描二維碼
隨時(shí)隨地手機(jī)看文章

[導(dǎo)讀]在數(shù)字芯片中很多事情都可以稱之為verificaiton，例如?functionalverificationtimingverificationtestverification一般在中文里面為了方便區(qū)分，我們可以分別稱之為功能驗(yàn)證、時(shí)序檢查和芯片測(cè)試。芯片測(cè)試的重點(diǎn)是快速檢測(cè)從生...

在數(shù)字芯片中很多事情都可以稱之為verificaiton，例如

functional verification

timing verification

test verification

一般在中文里面為了方便區(qū)分，我們可以分別稱之為功能驗(yàn)證、時(shí)序檢查和芯片測(cè)試。

芯片測(cè)試的重點(diǎn)是快速檢測(cè)從生產(chǎn)線上出來的芯片中制造缺陷的能力。測(cè)試工程師給芯片施加隨機(jī)的激勵(lì)，然后采樣芯片輸出，最后和自己預(yù)期的參考模型輸出進(jìn)行比對(duì)。如果比對(duì)不通過，說明所測(cè)的就是一顆具有生產(chǎn)缺陷的石頭，即點(diǎn)石成金失敗。

數(shù)字芯片RTL實(shí)現(xiàn)時(shí)除了包括業(yè)務(wù)功能，還包括BIST（built-in self test）邏輯。芯片制造完成后，測(cè)試工程師會(huì)激活芯片內(nèi)部的BIST邏輯，然后再進(jìn)行測(cè)試。

即使芯片驗(yàn)證和芯片測(cè)試看起來類似，其實(shí)差異很大。一顆芯片測(cè)試通過之后仍然可能因?yàn)楣δ軉栴}而導(dǎo)致1 1 =3，因?yàn)樾酒瑴y(cè)試僅僅保證芯片在制造過程中沒有改變電路本身的功能，而并不保證電路原始功能是否正確。

相比芯片測(cè)試的對(duì)象（制造bug），芯片驗(yàn)證的對(duì)象（電路功能bug）更為隱蔽，通常需要非常多有經(jīng)驗(yàn)的驗(yàn)證工程師才能保證功能的正確性。