芯片驗(yàn)證中的兩學(xué)一做
[導(dǎo)讀]做復(fù)雜事情井井有序是對(duì)一個(gè)人優(yōu)良品格的贊美，對(duì)于芯片功能驗(yàn)證也是一樣。芯片驗(yàn)證的最終目的就是確保交付一個(gè)沒有功能bug的RTL，為了達(dá)成這個(gè)目標(biāo)就需要一個(gè)有經(jīng)驗(yàn)的驗(yàn)證工程師的帶領(lǐng)，即需要經(jīng)過(guò)多個(gè)項(xiàng)目摸打滾爬的工程師的指導(dǎo)。?這里總結(jié)為兩學(xué)一做，即做前學(xué)-做-做后學(xué)。?做前學(xué)：數(shù)字...
做復(fù)雜事情井井有序是對(duì)一個(gè)人優(yōu)良品格的贊美，對(duì)于芯片功能驗(yàn)證也是一樣。芯片驗(yàn)證的最終目的就是確保交付一個(gè)沒有功能bug的RTL，為了達(dá)成這個(gè)目標(biāo)就需要一個(gè)有經(jīng)驗(yàn)的驗(yàn)證工程師的帶領(lǐng)，即需要經(jīng)過(guò)多個(gè)項(xiàng)目摸打滾爬的工程師的指導(dǎo)。?這里總結(jié)為兩學(xué)一做，即做前學(xué)-做-做后學(xué)。?做前學(xué)：數(shù)字芯片RTL層次的開發(fā)從功能規(guī)范開始，然后一起交付給設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)。驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)在此時(shí)會(huì)仔細(xì)學(xué)習(xí)規(guī)范，然后書寫驗(yàn)證計(jì)劃，并開始開發(fā)驗(yàn)證環(huán)境。驗(yàn)證計(jì)劃以及測(cè)試點(diǎn)分析完成之后會(huì)受到團(tuán)隊(duì)內(nèi)驗(yàn)證專家和設(shè)計(jì)的共同檢視，然后進(jìn)行補(bǔ)充，增強(qiáng)驗(yàn)證的完備性。?做：在進(jìn)行驗(yàn)證的過(guò)程中，驗(yàn)證人員依然會(huì)發(fā)現(xiàn)最初驗(yàn)證方案的不合理，并對(duì)驗(yàn)證計(jì)劃進(jìn)行調(diào)整。驗(yàn)證的過(guò)程包括單個(gè)用例調(diào)試和所有用例回歸，期間驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)可能會(huì)發(fā)現(xiàn)各種各樣的設(shè)計(jì)問題或者驗(yàn)證環(huán)境本身的問題。隨著驗(yàn)證收斂，驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)和設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)對(duì)整個(gè)驗(yàn)證流程進(jìn)行回顧檢視，芯片就準(zhǔn)備流片進(jìn)行生產(chǎn)。?做后學(xué)：在功能驗(yàn)證交付之后，芯片仍然會(huì)經(jīng)過(guò)FPGA驗(yàn)證、硅后芯片系統(tǒng)驗(yàn)證等等環(huán)節(jié)。這個(gè)時(shí)候如果仍然發(fā)現(xiàn)問題，就需要進(jìn)行逃逸分析來(lái)評(píng)估前面所做的驗(yàn)證工作的質(zhì)量。此時(shí)，前面功能驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)?wèi)?yīng)該吸取經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)，在下一次驗(yàn)證項(xiàng)目中避免出現(xiàn)類似的問題。
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