有哪些意識(shí)會(huì)使芯片驗(yàn)證失敗，遺漏bug
第二，設(shè)計(jì)人員未參與到驗(yàn)證計(jì)劃的檢視。驗(yàn)證計(jì)劃的開發(fā)是整個(gè)驗(yàn)證周期的起點(diǎn)，也是芯片研發(fā)周期設(shè)計(jì)和驗(yàn)證最初始的溝通橋梁。設(shè)計(jì)人員未參與到驗(yàn)證計(jì)劃，不可避免會(huì)導(dǎo)致驗(yàn)證工程師忽略到部分關(guān)鍵的功能測(cè)試點(diǎn)，進(jìn)而導(dǎo)致芯片出現(xiàn)功能故障。?第三，驗(yàn)證工程師忽視逃逸分析。做錯(cuò)了題不去反省，和沒做有什么區(qū)別？作為驗(yàn)證工程師，我們應(yīng)該從過去犯的錯(cuò)誤中吸取一些教訓(xùn)，因?yàn)?a href="/tags/芯片驗(yàn)證" target="_blank">芯片驗(yàn)證錯(cuò)誤成本是巨大的。如果不從過去犯的錯(cuò)誤當(dāng)中吸取教訓(xùn)，我們注定再犯同樣的錯(cuò)誤。同時(shí)，大多數(shù)的芯片bug都是發(fā)生在非常刁鉆的場(chǎng)景，所以進(jìn)行芯片故障的逃逸分析并不丟人。?第四，項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)依靠計(jì)劃時(shí)間表而不是項(xiàng)目各階段輸出標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行sign off。著急的計(jì)劃安排，常常會(huì)導(dǎo)致我們忽視糟糕的實(shí)際項(xiàng)目執(zhí)行現(xiàn)狀。在芯片研發(fā)階段質(zhì)量活動(dòng)未進(jìn)行徹底的條件下著急地sign off非常容易引發(fā)更長(zhǎng)時(shí)間的項(xiàng)目延期，從而負(fù)擔(dān)更大的機(jī)會(huì)成本。
下載文檔芯片驗(yàn)證通常被視為設(shè)計(jì)的衍生。十年前的驗(yàn)證不如設(shè)計(jì)那么重要，新手的設(shè)計(jì)經(jīng)常被安排進(jìn)行一些驗(yàn)證，大多數(shù)驗(yàn)證工程師想要成為設(shè)計(jì)也就不足為奇了。但現(xiàn)在，驗(yàn)證可能是比設(shè)計(jì)更有利可圖的職業(yè)選擇，許多有經(jīng)驗(yàn)的人會(huì)堅(jiān)持驗(yàn)證，而不會(huì)考慮...
關(guān)鍵字： 互聯(lián)網(wǎng) 芯片驗(yàn)證 工程師 TESTBENCH首先，驗(yàn)證計(jì)劃非常非常重要！因?yàn)樗褪切酒?yàn)證的導(dǎo)向，回答了兩個(gè)問題1、我在驗(yàn)證什么？2、我如何驗(yàn)證？事不預(yù)則不立，沒有認(rèn)真制定驗(yàn)證計(jì)劃，驗(yàn)證過程和驗(yàn)證結(jié)果也不會(huì)樂觀的。極有可能一地雞毛，瘋狂漏測(cè)。?在書寫驗(yàn)證計(jì)劃的時(shí)候...
關(guān)鍵字： 芯片驗(yàn)證斷言主要應(yīng)用在白盒驗(yàn)證或者灰盒驗(yàn)證中，即假設(shè)某些內(nèi)部條件在仿真過程中或者形式驗(yàn)證中一直成立。為什么現(xiàn)代芯片驗(yàn)證方法大量使用斷言有幾個(gè)原因：1、在黑盒驗(yàn)證中，驗(yàn)證工程師不知道一些內(nèi)部實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)，需要設(shè)計(jì)工程在RTL中使用斷言...
關(guān)鍵字： 芯片驗(yàn)證亞里士多德說：“任何一個(gè)系統(tǒng)都有自己的第一性原理，它是一個(gè)根基性命題或假設(shè)，不能被缺省，也不能被違反。”《第一性原理》第一性原理，好比樹木的根基，沒有人會(huì)看到繁茂枝干下的樹根，但它決定了樹的一切。本文將“第一性原理”的思...
關(guān)鍵字： 芯片驗(yàn)證核心提示：明導(dǎo)國(guó)際(Mentor Graphics)企業(yè)驗(yàn)證平臺(tái)(EVP)出爐。為大幅提高IC設(shè)計(jì)公司的生產(chǎn)力總體驗(yàn)證投資回報(bào)率，明導(dǎo)開發(fā)出整合先進(jìn)驗(yàn)證解決方案Questa、全球硬體模擬資源配置技術(shù)Veloce OS3及...
關(guān)鍵字： 芯片驗(yàn)證 模擬 GRAPHICS IC設(shè)計(jì)
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