有哪些意識(shí)會(huì)使芯片驗(yàn)證失敗，遺漏bug

時(shí)間：2021-11-12 14:16:55

關(guān)鍵字：芯片驗(yàn)證

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[導(dǎo)讀]毫無(wú)疑問(wèn)，在芯片驗(yàn)證中遺漏bug既耗時(shí)又耗錢。常常有些團(tuán)隊(duì)不遵循良好的驗(yàn)證意識(shí)，導(dǎo)致驗(yàn)證項(xiàng)目失敗。下面列出了芯片研發(fā)團(tuán)隊(duì)常犯的一些導(dǎo)致芯片遺漏bug的錯(cuò)誤：第一，驗(yàn)證工程師在驗(yàn)證設(shè)計(jì)時(shí)基于設(shè)計(jì)的具體實(shí)現(xiàn)而不是原始規(guī)格。此時(shí)的驗(yàn)證僅僅證明設(shè)計(jì)自己與自己功能相同，我們的驗(yàn)證需求應(yīng)該來(lái)...

毫無(wú)疑問(wèn)，在芯片驗(yàn)證中遺漏bug既耗時(shí)又耗錢。常常有些團(tuán)隊(duì)不遵循良好的驗(yàn)證意識(shí)，導(dǎo)致驗(yàn)證項(xiàng)目失敗。下面列出了芯片研發(fā)團(tuán)隊(duì)常犯的一些導(dǎo)致芯片遺漏bug的錯(cuò)誤：

第一，驗(yàn)證工程師在驗(yàn)證設(shè)計(jì)時(shí)基于設(shè)計(jì)的具體實(shí)現(xiàn)而不是原始規(guī)格。此時(shí)的驗(yàn)證僅僅證明設(shè)計(jì)自己與自己功能相同，我們的驗(yàn)證需求應(yīng)該來(lái)自更加原始的規(guī)格需求。

第二，設(shè)計(jì)人員未參與到驗(yàn)證計(jì)劃的檢視。驗(yàn)證計(jì)劃的開(kāi)發(fā)是整個(gè)驗(yàn)證周期的起點(diǎn)，也是芯片研發(fā)周期設(shè)計(jì)和驗(yàn)證最初始的溝通橋梁。設(shè)計(jì)人員未參與到驗(yàn)證計(jì)劃，不可避免會(huì)導(dǎo)致驗(yàn)證工程師忽略到部分關(guān)鍵的功能測(cè)試點(diǎn)，進(jìn)而導(dǎo)致芯片出現(xiàn)功能故障。

第三，驗(yàn)證工程師忽視逃逸分析。做錯(cuò)了題不去反省，和沒(méi)做有什么區(qū)別？作為驗(yàn)證工程師，我們應(yīng)該從過(guò)去犯的錯(cuò)誤中吸取一些教訓(xùn)，因?yàn)?a href="/tags/芯片驗(yàn)證" target="_blank">芯片驗(yàn)證錯(cuò)誤成本是巨大的。如果不從過(guò)去犯的錯(cuò)誤當(dāng)中吸取教訓(xùn)，我們注定再犯同樣的錯(cuò)誤。同時(shí)，大多數(shù)的芯片bug都是發(fā)生在非常刁鉆的場(chǎng)景，所以進(jìn)行芯片故障的逃逸分析并不丟人。

第四，項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)依靠計(jì)劃時(shí)間表而不是項(xiàng)目各階段輸出標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行sign off。著急的計(jì)劃安排，常常會(huì)導(dǎo)致我們忽視糟糕的實(shí)際項(xiàng)目執(zhí)行現(xiàn)狀。在芯片研發(fā)階段質(zhì)量活動(dòng)未進(jìn)行徹底的條件下著急地sign off非常容易引發(fā)更長(zhǎng)時(shí)間的項(xiàng)目延期，從而負(fù)擔(dān)更大的機(jī)會(huì)成本。