電橋測(cè)試儀原理

Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當(dāng)DUT(Device Under Test)接入電路時(shí)，放大器的負(fù)反饋配置自動(dòng)使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測(cè)定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0)，Vr與Rr測(cè)得DUT電流Ix，由此可計(jì)算Zx。

HP4275的測(cè)試端Hp，Hc，Lp，Lc(下標(biāo)c代表current， 下標(biāo)p代表Potentail)，Guard(接地)的配置可導(dǎo)致測(cè)試的誤差的差異。

提高精度的方法是： 1，Hp，Lp，Hc，Lc盡量接近DUT; 2，減小測(cè)試電流Ix的回路面積&磁通量(關(guān)鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable最小化回路面積);3，使用Gurard與Cable構(gòu)建地平面中斷信號(hào)線間的電場(chǎng)連接，雖然會(huì)增加信號(hào)線的對(duì)地電容(對(duì)地電容不影響測(cè)試結(jié)果)，但是會(huì)減少信號(hào)線的互容。

Guard與Cable的對(duì)地寄生阻抗(Zhg，Zlg) 不影響測(cè)試結(jié)果，電橋平衡時(shí)Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會(huì)被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測(cè)量。

電橋測(cè)試儀能測(cè)試哪些東西

電容電橋測(cè)量?jī)x主要是對(duì)無功補(bǔ)償裝置的高壓并聯(lián)電容組，以及電抗器的測(cè)量，其測(cè)量依據(jù)，符合SJ-255-10300電容測(cè)量?jī)x國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

它主要解決了以下問題：

1. 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量電容器不需拆除連接線，減化試驗(yàn)過程、有效提高工作效率、避免損害電力設(shè)備;

2. 完整參數(shù)測(cè)量，極易判別電容器的品質(zhì)變化，及器件間連接導(dǎo)體故障;

3. 大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和USB通信，不需現(xiàn)場(chǎng)抄寫數(shù)據(jù)，確保了測(cè)量數(shù)據(jù)完整。

電橋測(cè)試儀可以測(cè)量磁通量嗎?

電橋測(cè)試儀是可以測(cè)量磁通量的。磁通量通常通過通量計(jì)進(jìn)行測(cè)量。通量計(jì)包括測(cè)量線圈以及估計(jì)測(cè)量線圈上電壓變化的電路，從而計(jì)算磁通量。

電橋測(cè)試儀的作用

數(shù)字電橋可用于計(jì)量測(cè)試部門對(duì)阻抗量具的檢定與傳遞，以及在一般部門中對(duì)阻抗元件的常規(guī)測(cè)量。很多數(shù)字電橋帶有標(biāo)準(zhǔn)接口，可根據(jù)被測(cè)值的準(zhǔn)確度對(duì)被測(cè)元件進(jìn)行自動(dòng)分檔;也可直接連接到自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，用于元件生產(chǎn)線上對(duì)產(chǎn)品自動(dòng)檢驗(yàn)，以實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制。80年代中期，通用的誤差低于0.1%的數(shù)字電橋有幾十種。數(shù)字電橋正向著更高準(zhǔn)確度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面發(fā)展。

電容C，電感L，電阻R是電子工程師在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中最常用的電子元器件。作為常見的小小的被動(dòng)器件，確影響著電路的參數(shù)，也直接牽扯的電子產(chǎn)品的優(yōu)劣。所以對(duì)于每個(gè)元器件(電容/電感/電阻)，我們要了解其特性參數(shù)，也需要時(shí)刻準(zhǔn)確測(cè)量到這些參數(shù)。

LCR測(cè)試儀就是用來測(cè)試元器件(電容/電感/電阻)參數(shù)的。在一般情況下，電阻只要測(cè)量其直流電阻值就可以了，這樣可以使用萬(wàn)用表(例GDM-8261A)或者電阻測(cè)試儀(例GOM-802)，另外固緯電子LCR-8000G系列也具有直流電阻測(cè)量功能。與普通電阻不同，對(duì)于電感和電容，就需要采用交流方式來測(cè)量。LCR測(cè)試儀就是采用交流電進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于交流電而言，電壓V與電流I的比值是阻抗Z，直流方式下的電阻R只需用‘大小’來表示，而阻抗Z確包含了‘大小’和‘相位’兩個(gè)要素，在數(shù)學(xué)上用復(fù)數(shù)和矢量來表示。

電橋測(cè)試儀使用注意事項(xiàng)

1.選擇正確的測(cè)試條件。元器件廠商給出的器件參數(shù)值所代表的是在規(guī)定的測(cè)量條件下能達(dá)到的性能，以及允許出現(xiàn)的偏差值。下圖為部分品牌的電容與頻率的特性曲線。

我們可以看到在不同的測(cè)試頻率下，電容的參數(shù)出現(xiàn)非線性的變化，所以我們對(duì)于測(cè)量某元器件時(shí)候，一定要選擇合適的測(cè)量頻率以及測(cè)量電壓，另外對(duì)于某些器件可能還需要設(shè)置偏置電壓等測(cè)試條件。對(duì)于需要觀測(cè)器件的頻率特性，固緯電子LCR-8000G系列具有頻率掃描測(cè)量模式，能直觀的觀測(cè)不同頻率情況下器件的參數(shù)變化，這點(diǎn)對(duì)于研發(fā)測(cè)試中能給工程師帶來便利。

2.選擇合適測(cè)量治具。測(cè)量治具也是LCR測(cè)試儀的重要組成部分，對(duì)于封裝方式多樣化的元器件，LCR也有多種測(cè)量治具選擇。以下為固緯LCR測(cè)試治具以及測(cè)量范圍。合適的測(cè)量治具不僅帶來測(cè)量的便捷，更是測(cè)量準(zhǔn)確性的保證。

3.正確的零點(diǎn)校正。LCR測(cè)試儀的零點(diǎn)漂移會(huì)隨著測(cè)試條件的變換或者是測(cè)試治具的不同而產(chǎn)生改變，所以開路以及短路的零點(diǎn)校正非常必要。所以LCR測(cè)試儀都有開路和短路校正的設(shè)置。