[導(dǎo)讀]愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(Advantest)宣布推出以 V93000 平臺(tái)為基礎(chǔ)的行動(dòng)電源管理IC (PMIC)測(cè)試解決方案,以最具成本效益的優(yōu)勢(shì)進(jìn)軍系統(tǒng)單晶片 (SoC) PMIC 測(cè)試市場(chǎng)。此套解決方案相容于愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的 V93000 系統(tǒng),可對(duì)具有嵌入式
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(Advantest)宣布推出以 V93000 平臺(tái)為基礎(chǔ)的行動(dòng)電源管理IC (PMIC)測(cè)試解決方案,以最具成本效益的優(yōu)勢(shì)進(jìn)軍系統(tǒng)單晶片 (SoC) PMIC 測(cè)試市場(chǎng)。此套解決方案相容于愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試的 V93000 系統(tǒng),可對(duì)具有嵌入式電源管理核心的復(fù)雜SoC元件和單邊接腳封裝(SiP)進(jìn)行大量多點(diǎn)測(cè)試。
以行動(dòng)電源管理IC元件而言,測(cè)試機(jī)臺(tái)不僅要執(zhí)行大量復(fù)雜測(cè)試,包括高達(dá)2,000次元件特性分析測(cè)試、500次設(shè)計(jì)驗(yàn)證測(cè)試及300次量產(chǎn)測(cè)試,且必須配備各式各樣功能,才足以因應(yīng)SoC將類(lèi)比與數(shù)位電路整合在同一顆IC上并納入電源管理功能的高階設(shè)計(jì)需求。
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試全新 V93000 行動(dòng)電源管理IC測(cè)試解決方案提供具可擴(kuò)充性的低測(cè)試成本架構(gòu),透過(guò)高密度模組進(jìn)行大量并行同測(cè)。為提供最大測(cè)試彈性與最大經(jīng)濟(jì)效益,測(cè)試機(jī)臺(tái)采用全新高密度元件電源供應(yīng) DPS128 設(shè)計(jì),每個(gè)模組配有128個(gè)電壓/電流供應(yīng) (VI) 通道,可精確地供應(yīng)與量測(cè)電壓與電流;此解決方案亦采用愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試 Pin Scale 1600 數(shù)位模組的通用腳位 (Universal Pin)架構(gòu),同時(shí)兼具高速數(shù)位(High Speed Digital)能力、精準(zhǔn)直流電(Precision DC)的供應(yīng)與量測(cè)功能,為行動(dòng)電源管理IC測(cè)試最佳選擇。
此外,其每根腳位獨(dú)立的時(shí)間量測(cè)單元 (Per-pin TMU)更能有效率地量測(cè)今日先進(jìn)電源管理元件需求如高切換頻率、工作周期、上升/下降時(shí)間等功能。其配備組成可隨需要調(diào)整與擴(kuò)充,以符合未來(lái)測(cè)試需求。
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試這套高密度測(cè)試解決方案是專(zhuān)為可攜式裝置最新電源管理技術(shù)所設(shè)計(jì),如多重供應(yīng)電壓(MSV),此技術(shù)透過(guò)提供多個(gè)電源域,使電流分開(kāi)配置使用,并利用電源供應(yīng)關(guān)閉(PSO) 設(shè)計(jì),在電源處于待命狀態(tài)時(shí),保留個(gè)別電源區(qū)塊,以延長(zhǎng)電池使用壽命。
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試SoC事業(yè)資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示:「這套全新 V93000 行動(dòng)電源管理IC測(cè)試解決方案不僅具備絕佳效能,更能讓客戶(hù)以經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的成本達(dá)到加速產(chǎn)品上市目標(biāo)。由于PMIC技術(shù)不斷創(chuàng)新,元件的復(fù)雜性也會(huì)隨之增加, V93000 可望成為 PMIC 的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試解決方案?!?br>
愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試 V93000 行動(dòng)電源管理IC測(cè)試解決方案預(yù)計(jì)今年內(nèi)開(kāi)始出貨。
欲知詳情,請(qǐng)下載word文檔
下載文檔
本站聲明: 本文章由作者或相關(guān)機(jī)構(gòu)授權(quán)發(fā)布,目的在于傳遞更多信息,并不代表本站贊同其觀(guān)點(diǎn),本站亦不保證或承諾內(nèi)容真實(shí)性等。需要轉(zhuǎn)載請(qǐng)聯(lián)系該專(zhuān)欄作者,如若文章內(nèi)容侵犯您的權(quán)益,請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系本站刪除( 郵箱:macysun@21ic.com )。
上海2026年3月16日 /美通社/ -- 近日,在A(yíng)WE中國(guó)家電及消費(fèi)電子博覽會(huì)(簡(jiǎn)稱(chēng):AWE)上,國(guó)際公認(rèn)的測(cè)試、檢驗(yàn)和認(rèn)證機(jī)構(gòu)SGS為追覓創(chuàng)新科技(蘇州)有限公司(以下簡(jiǎn)稱(chēng)"追覓")旗下RLX86DE、RLX87D...
關(guān)鍵字:
MARK
PERFORMANCE
掃地機(jī)器人
TEST
LambdaTest更名為T(mén)estMu AI,成為全球首個(gè)實(shí)現(xiàn)完全自主測(cè)試的智能體質(zhì)量工程平臺(tái) 為無(wú)限代碼時(shí)代帶來(lái)氛圍測(cè)試: 隨著智能體AI(Agentic AI)重塑...
關(guān)鍵字:
TEST
STM
AI
智能體
通過(guò) AEC-Q100 認(rèn)證,面向單電源 MCU應(yīng)用
關(guān)鍵字:
電源管理IC
MCU
PCB
LambdaTest入選2025年Gartner? AI增強(qiáng)軟件測(cè)試工具M(jìn)agic Quadrant?挑戰(zhàn)者象限 評(píng)估基于愿景完整性與執(zhí)行力 印度諾伊達(dá)和舊金山2025年...
關(guān)鍵字:
TEST
GARTNER
AI
AN
體驗(yàn)覆蓋網(wǎng)頁(yè)與移動(dòng)端的無(wú)縫測(cè)試規(guī)劃、編寫(xiě)與執(zhí)行流程,加速質(zhì)量保證,推動(dòng)更快的產(chǎn)品發(fā)布。 印度諾伊達(dá)和舊金山2025年9月17日 /美通社/ -- 基于生成式人工智能的質(zhì)量工...
關(guān)鍵字:
AI
自動(dòng)化
TEST
AN
-LambdaTest推出全球首個(gè)AI智能體測(cè)試平臺(tái):引入智能體對(duì)智能體測(cè)試 AI原生多智能體系統(tǒng)提供更智能、更快、更全面的軟件測(cè)試 舊金山2025年8月20日 /美通社...
關(guān)鍵字:
智能體
測(cè)試平臺(tái)
TEST
AI
今天,小編將在這篇文章中為大家?guī)?lái)電源管理IC的有關(guān)報(bào)道,通過(guò)閱讀這篇文章,大家可以對(duì)它具備清晰的認(rèn)識(shí),主要內(nèi)容如下。
關(guān)鍵字:
電源
IC
電源管理IC
電源管理IC將是下述內(nèi)容的主要介紹對(duì)象,通過(guò)這篇文章,小編希望大家可以對(duì)它的相關(guān)情況以及信息有所認(rèn)識(shí)和了解,詳細(xì)內(nèi)容如下。
關(guān)鍵字:
電源
IC
電源管理IC
一直以來(lái),電源管理IC都是大家的關(guān)注焦點(diǎn)之一。因此針對(duì)大家的興趣點(diǎn)所在,小編將為大家?guī)?lái)電源管理IC的相關(guān)介紹,詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)看下文。
關(guān)鍵字:
電源
IC
電源管理IC
在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,電源管理是一個(gè)至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。它不僅影響系統(tǒng)的能耗,還直接關(guān)系到設(shè)備的續(xù)航能力和整體性能。電源管理集成電路(PMIC)作為電源管理的核心,負(fù)責(zé)監(jiān)控和控制系統(tǒng)的電源狀態(tài),提供多種電源輸出,包括穩(wěn)壓、降壓...
關(guān)鍵字:
嵌入式系統(tǒng)
電源管理IC
借助這筆資金,LambdaTest計(jì)劃推進(jìn)KaneAI,推出AI原生QA代理即服務(wù)(AI Native QA Agent-as-a-Service),從而通過(guò)基于A(yíng)I的洞察、...
關(guān)鍵字:
TEST
AI
AN
QUALCOMM
如果器件有兩個(gè)獨(dú)立的軟啟動(dòng)引腳,每個(gè)引腳都有各自的電流源,現(xiàn)在將二者并聯(lián)連接,形成單路輸出設(shè)計(jì),此時(shí)電流源值會(huì)加倍,相同的輸出電容將表現(xiàn)出原來(lái)一半的時(shí)序。為了實(shí)現(xiàn)相同的軟啟動(dòng)時(shí)序,軟啟動(dòng)電容值也需要加倍。
關(guān)鍵字:
電流源
軟啟動(dòng)方程
電源管理IC
11月5日-6日,由全球電子行業(yè)知名媒體AspenCore主辦的國(guó)際集成電路展覽會(huì)暨研討會(huì)(IIC Shenzhen 2024)在深圳福田會(huì)展中心7號(hào)館圓滿(mǎn)落幕。作為業(yè)界頗具影響力的系統(tǒng)設(shè)計(jì)峰會(huì),IIC Shenzhen...
關(guān)鍵字:
電源管理IC
半導(dǎo)體
KaneAI將把測(cè)試范圍擴(kuò)大到工程師和開(kāi)發(fā)人員之外。 它是軟件測(cè)試行業(yè)首個(gè)基于GenAI的測(cè)試工作室,旨在改變團(tuán)隊(duì)創(chuàng)建、管理和執(zhí)行測(cè)試的方式 印度諾伊達(dá)和舊金山2024年8...
關(guān)鍵字:
人工智能
智能測(cè)試
TEST
AN
依托LambdaTest全新人工智能驅(qū)動(dòng)分析工具,質(zhì)量保障(QA)團(tuán)隊(duì)能夠獲得更深入的洞察,更快地解決問(wèn)題,并提升軟件質(zhì)量和性能 印度諾伊達(dá)和舊金山2024年8月7日 /美...
關(guān)鍵字:
人工智能
智能測(cè)試
TEST
自動(dòng)化
為增進(jìn)大家對(duì)電源的認(rèn)識(shí),本文將對(duì)電源管理IC的分類(lèi)以及電源管理IC的功能予以介紹。
關(guān)鍵字:
電源
指數(shù)
電源管理IC
nPM1300 PMIC將基本功能集成到緊湊型封裝中,從而簡(jiǎn)化了電源管理系統(tǒng)設(shè)計(jì)。其搭配的評(píng)測(cè)套件在與nPM PowerUP PC應(yīng)用一起使用時(shí),無(wú)需編碼,則簡(jiǎn)化了評(píng)測(cè)和實(shí)施工作。
關(guān)鍵字:
電源管理IC
電源管理系統(tǒng)
物聯(lián)網(wǎng)
6月29日-7月1日,加速科技將攜最新研發(fā)的LCD Driver測(cè)試機(jī)Flex10K-L、高性能數(shù)?;旌闲盘?hào)測(cè)試機(jī)ST2500E、ST2500A、ST2500EX等新品亮相SEMICON China 2023盛會(huì)。
關(guān)鍵字:
加速科技
IC測(cè)試
為了滿(mǎn)足LCD Driver芯片不斷提出的測(cè)試需求,加速科技推出了一款大型LCD Driver測(cè)試機(jī)——Flex10K-L。該測(cè)試系統(tǒng)采用先進(jìn)的設(shè)計(jì)架構(gòu),具有領(lǐng)先的測(cè)試性能和量產(chǎn)測(cè)試能力,可以有效地降低高分辨率屏顯驅(qū)動(dòng)芯...
關(guān)鍵字:
加速科技
IC測(cè)試