愛德萬(wàn)測(cè)試(Advantest)發(fā)表多功能NEO-SSD平臺(tái)，揮軍高階PCI Express(PCIe) 3.0 NVMe企業(yè)級(jí)/消費(fèi)性應(yīng)用固態(tài)硬碟(SSD)測(cè)試市場(chǎng)。愛德萬(wàn)測(cè)試以此平臺(tái)為基礎(chǔ)開發(fā)一系列測(cè)試解決方案，預(yù)定于今年第四季開始向客戶出貨。此NEO-SSD平臺(tái)可隨需設(shè)定，支援多種通訊協(xié)定，具備各種SSD系統(tǒng)等級(jí)測(cè)試功能，包括工程驗(yàn)證、設(shè)計(jì)驗(yàn)證、可靠性驗(yàn)證與生產(chǎn)測(cè)試。
愛德萬(wàn)測(cè)試美國(guó)子公司Advantest America GTRI副總裁Colin Ritchie表示，NEO-SSD平臺(tái)讓愛德萬(wàn)測(cè)試得以率先開發(fā)出業(yè)界第一套真正具有延展性、以平臺(tái)為基礎(chǔ)的SSD測(cè)試解決方案，為客戶提供低成本、高測(cè)試效能、快速作業(yè)能力與高度訊號(hào)完整性等效益。此外，采用Tester-per-DUT架構(gòu)的NEO-SSD機(jī)臺(tái)不必與其他設(shè)備共用資源，而能創(chuàng)造出突破性企業(yè)級(jí)效能與品質(zhì)，且絲毫不影響測(cè)試周期或測(cè)試范圍。

根據(jù)預(yù)估到2017年時(shí)，SSD的市場(chǎng)規(guī)模將成長(zhǎng)五倍，數(shù)量將超過(guò)兩億，目前SSD在市場(chǎng)上的推廣應(yīng)用仍處于初期發(fā)展階段，裝置通訊協(xié)定與測(cè)試策略也還在調(diào)整中，因此必須仰賴具備高效能和彈性的有效測(cè)試解決方案。

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