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M3G測試方案為高級內(nèi)存提供低廉的測試成本

時間：2010-07-30 05:47:10

關(guān)鍵字：內(nèi)存測試方案 3G 存儲器

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[導(dǎo)讀]惠瑞捷 (Verigy)推出了全新的 HSM3G 高速存儲器測試解決方案，進一步拓展了面向 DDR3世代主流存儲器 IC 和更高級存儲器件測試能力的 V93000 HSM 平臺。V93000 HSM3G 獨特的優(yōu)勢在于其未來的可升級性，能夠為數(shù)據(jù)傳輸

惠瑞捷 (Verigy)推出了全新的 HSM3G 高速存儲器測試解決方案，進一步拓展了面向 DDR3世代主流存儲器 IC 和更高級存儲器件測試能力的 V93000 HSM 平臺。V93000 HSM3G 獨特的優(yōu)勢在于其未來的可升級性，能夠為數(shù)據(jù)傳輸速度高達6.8 Gbps未來的三代 DDR 存儲器提供價格低廉的測試服務(wù)，從而前所未有地長期節(jié)約經(jīng)濟成本。

　　惠瑞捷 SOC 測試副總裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“存儲器制造商一直在尋找一種既能滿足其生產(chǎn)和功能需求又能提供比一代器件壽命更長、投資價值更高的節(jié)約型 ATE 解決方案。我們可升級前所未有的 V93000 HSM 測試平臺的壽命，能夠為從 DDR3 到 DDR4 再到將來更高級的主流 DRAM 的至少三代設(shè)備提供卓越的投資回報。這些測試非常節(jié)約成本，業(yè)界其它產(chǎn)品均不可企及?！?/P>

　　V93000 HSM3G 的速度和功能將來都可以升級，提供了高速存儲器測試市場上最完整的功能。其可編程的、快速的每引腳 APG 能力得到了數(shù)據(jù)總線倒置 (DBI) 和循環(huán)冗余校驗碼 (CRC) 數(shù)據(jù)的支持，能夠?qū)Ω呒壍?DDR4 存儲器技術(shù)功能進行測試，確保了較高的測試質(zhì)量和產(chǎn)量。

　　得益于其每引腳的存儲器自動測試設(shè)備處理能力，V93000 HSM3G 可以節(jié)約高達20%的測試時間。它提供全并行模式的執(zhí)行(parallel pattern execuTIon)、全并行的直流檢測以及眼寬的測量(eye-width measurements)，從而提供了非常高的多點效率。

　　V93000 HSM3G 在整個速度范圍內(nèi)實現(xiàn)了 2.9 Gbps 的原生數(shù)據(jù)傳輸率以及 256-site DDR3 實際并行測試(parallel testing)，而無需任何測試時間管理費用，也不會影響準確性、功能性、測試范圍以及產(chǎn)量。得益于其原生速度余量(native speed headroom)，HSM3G 可以滿足所有主流DDR3 總線速度需求以及高端游戲 DDR3 以及前兩個 DDR4 大規(guī)模速度等級。V93000 平臺架構(gòu)確保將來能夠升級到更高速的設(shè)備。

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