吉時利儀器公司日前針對半導體測試與測量應用推出ACS基礎版半導體參數(shù)測試軟件的最新版本。ACS基礎版V1.2進一步提高了元件或離散（封裝的）半導體器件特征分析的可用性、便捷性和測試產(chǎn)能。它具有Trace模式，能夠實時檢查測量結果，采用交互的方式控制電壓掃描，避免緊急情況下可能出現(xiàn)的器件擊穿。除了完全支持吉時利各種數(shù)字源表（SMU）之外，ACS基礎版將高速硬件控制、器件連接和數(shù)據(jù)管理功能集成在一套簡潔易用的工具中， 并針對部件驗證、調試和分析進行優(yōu)化。
更高的測試產(chǎn)能
ACS基礎版為用戶提供了令人難以置信的豐富的快速易用測試庫，用戶無需編程。直觀的GUI功能簡化了多種I-V測試、數(shù)據(jù)采集和分析操作。即使是新用戶也能夠快速實現(xiàn)半導體元件測試，產(chǎn)生一系列曲線，然后立即與基準曲線進行對比。盡管預先配置的測試例程將測試啟動時間縮短至最短，用戶仍然可以靈活地優(yōu)化測試或整個測試系統(tǒng)。
ACS基礎版V1.2最新的Trace模式支持器件的交互式測試。用戶利用這種功能可以定義工作范圍，并對DUT進行特征分析，同時避免損壞器件。在這種交互式模式下，用戶可以通過虛擬滾動條或者PC鍵盤上的箭頭鍵，很方便地控制掃描電壓的大小。
適用于多種應用
ACS基礎版為從事封裝部件特征分析工作的廣大技術人員和工程師們實現(xiàn)了最大的測試產(chǎn)能，應用范圍涵蓋從早期器件研究到開發(fā)、質量驗證和故障分析等過程。無論對于大學的研究人員還是新興器件的開研者，它都能夠提供很好的服務，幫助用戶成功實現(xiàn)從單純性研究到商業(yè)化應用的轉換。它還能夠應用于半導體代工廠或公司中，幫助用戶實現(xiàn)以元件級工藝優(yōu)化為目的的試生產(chǎn)，支持QA、故障分析和生產(chǎn)后端測試。
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