Tensilica EDA和IC設(shè)計(jì)方法學(xué)參考書(shū)

基于EDA的交通燈控制系統(tǒng)

Cadence 推出業(yè)界新型的EDA產(chǎn)品

基于EDA的交通燈控制系統(tǒng)

XtremeData采用Altera的Stratix II FPGA來(lái)實(shí)現(xiàn)AMD™ Opteron系統(tǒng)處理器加速

2006年6月15號(hào)，香港——Altera公司（NASDAQ:ALTR）今天宣布XtremeData在其XD1000FPGA協(xié)處理解決方案中選用Altera容量最大的Stratix®IIFPGA器件。XD100FPGA模塊與AMDOpteron處理器引腳兼容，在降低功耗的基礎(chǔ)上，

北京工業(yè)大學(xué)—Altera成立EDA/SOPC實(shí)驗(yàn)室

2006年6月13號(hào)，北京—Altera®（NASDAQ：ALTR）公司今天宣布與北京工業(yè)大學(xué)共同建立EDA/SOPC聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室。Altera公司共為實(shí)驗(yàn)室和培訓(xùn)中心提供了價(jià)值超過(guò)70萬(wàn)美金的硬件開(kāi)發(fā)系統(tǒng)和配套軟件，其中包括：200套最新的

第43屆設(shè)計(jì)自動(dòng)化大會(huì)議程焦點(diǎn)預(yù)告

主題日將探討新一代多媒體、游戲和娛樂(lè)應(yīng)用方面的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn) 科羅拉多州－電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化（EDA）業(yè)界的一大盛事，全球設(shè)計(jì)自動(dòng)化大會(huì)（DAC）將于2006年7月24日-28日在舊金山莫斯克尼中心（MosconeCenter）舉行其第43屆

Synopsys加大在華投入 推動(dòng)IC設(shè)計(jì)業(yè)發(fā)展

電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)軟件工具領(lǐng)導(dǎo)廠商Synopsys公司日前宣布：公司將進(jìn)一步強(qiáng)化和拓寬與中國(guó)客戶的合作伙伴關(guān)系，通過(guò)整合公司在設(shè)計(jì)平臺(tái)、驗(yàn)證平臺(tái)、設(shè)計(jì)服務(wù)以及知識(shí)產(chǎn)權(quán)(IP)等領(lǐng)域的資源，并借助多年來(lái)在中國(guó)投資建

電子系統(tǒng)EDA集成開(kāi)發(fā)環(huán)境框架結(jié)構(gòu)

EDA集成開(kāi)發(fā)環(huán)境是電子系統(tǒng)開(kāi)發(fā)必備的工具與手段。本文根據(jù)目前的EDA工具軟件及其套件結(jié)構(gòu)和電子系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)需要，提出三種不同類(lèi)型的典型EDA集成開(kāi)發(fā)環(huán)境框架結(jié)構(gòu)

安捷倫AOI系統(tǒng)驗(yàn)證富士貼裝性能

安捷倫科技日前宣布已經(jīng)成功地利用其Medalist SJ50自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)（AOI）解決方案進(jìn)行了一項(xiàng)研究工作，驗(yàn)證了設(shè)備制造商—富士機(jī)械制造公司的01005元器件貼裝性能。雙方共同進(jìn)行的元器件貼裝研究結(jié)果表明，安捷倫系統(tǒng)在

評(píng)論：卡喉式競(jìng)爭(zhēng)無(wú)贏家，EDA產(chǎn)業(yè)亟需思想大變革

作者：Sang Wang博士，Nassda公司與Epic Design Technology公司前任CEO(已退休) 在EDA產(chǎn)業(yè)涉足了23年之久，我對(duì)行業(yè)的洞察如果不告誡一番實(shí)難讓我就此轉(zhuǎn)身離開(kāi)。就讓我和EDA同行和半導(dǎo)體客戶分享一些我對(duì)EDA及其

GEIA創(chuàng)立IBIS互連建模規(guī)范，方便產(chǎn)品兼容

美國(guó)政府電子和信息技術(shù)協(xié)會(huì)(GEIA)創(chuàng)立IBIS互連建模(ICM)規(guī)范，以便為設(shè)計(jì)和仿真工具之間的互連建模數(shù)據(jù)的傳輸提供通用方法。 GEIA表示在創(chuàng)立ICM之前，在硬件設(shè)計(jì)工程師、EDA工具供應(yīng)商和相應(yīng)的客戶之間的互連電氣描

ASIC原型構(gòu)建：是做還是買(mǎi)？

隨著數(shù)字集成電路（IC）的設(shè)計(jì)變得更加復(fù)雜，驗(yàn)證其功能的工作也越來(lái)越復(fù)雜了。在能被設(shè)計(jì)的門(mén)電路數(shù)量和能在合理時(shí)間內(nèi)被驗(yàn)證的門(mén)電路數(shù)量之間一直存在差距，而這些年來(lái)，EDA廠商們?cè)诳s小這種差距方面幾乎無(wú)所作為。