雙向TVS(Transient Voltage Suppressor)是一種用于保護電子設(shè)備免受瞬態(tài)電壓沖擊的半導(dǎo)體器件。雙向TVS管具有雙向?qū)щ娞匦?，可以同時對正向和負(fù)向的瞬態(tài)電壓進行保護。本文將介紹雙向TVS管的測量方法。外觀檢查是雙向TVS管測量的第一步，主要目的是檢查器件的外觀是否完好，有無損壞、裂紋、變形等現(xiàn)象，以確保器件的可靠性。

(1)目測：用肉眼觀察雙向TVS管的外觀，檢查是否有裂紋、變形、燒毀等現(xiàn)象。

(2)放大鏡檢查：使用放大鏡觀察器件的細節(jié)，如引腳是否彎曲、焊接是否牢固等。

(3)X光檢查：對于封裝較大的雙向TVS管，可以使用X光檢查內(nèi)部結(jié)構(gòu)，以確保內(nèi)部無損壞。

(1)檢查時應(yīng)在良好的光線下進行，以確保觀察的準(zhǔn)確性。

(2)對于表面有污漬或油污的器件，應(yīng)先進行清潔處理。

(3)檢查時應(yīng)注意不要用手直接觸摸器件，以免造成靜電損傷。

電氣參數(shù)測試是雙向TVS管測量的重要環(huán)節(jié)，主要目的是測試器件的電氣特性，如擊穿電壓、漏電流、電容等，以確保器件的性能符合要求。

TVS(Transient Voltage Suppressor)二極管，即瞬態(tài)抑制二極管，是一種用于保護電子設(shè)備免受瞬態(tài)過電壓(如雷擊、靜電放電等)損害的重要元件。判斷TVS二極管的好壞，通常需要從外觀檢查、電氣特性測試以及實際應(yīng)用表現(xiàn)等多個方面進行綜合評估。以下是對如何判斷TVS二極管好壞的介紹：

1 過電應(yīng)力

當(dāng)瞬態(tài)脈沖能量超過 TVS 所能承受能量時會引起 TVS 器件過電應(yīng)力損傷，特別是當(dāng)瞬態(tài)脈沖能量達到 TVS 所能承受能量的數(shù)倍時會直接導(dǎo)致 TVS 器件過電應(yīng)力燒毀，失效模式表現(xiàn)為短路。過電應(yīng)力短路失效的 TVS 芯片在掃描電鏡下觀察，可發(fā)現(xiàn) pn 結(jié)表面邊緣的熔融區(qū)域或體內(nèi)硅片的上表面和下表面的黑斑。

試驗表明，發(fā)生在結(jié)表面邊緣過電應(yīng)力短路失效通常是由持續(xù)時間極短(ns 級)的高能量瞬態(tài)脈沖所致，例如：EMP、

產(chǎn)生的脈沖;體內(nèi)過電應(yīng)力失效通常是由持續(xù)時間稍長(μs 級以上)高能量脈沖所致，例如：電快速瞬變，雷電產(chǎn)生的脈沖。如果高能量瞬態(tài)脈沖持續(xù)時間介于 ns 級和 μs 級之間，則短路可能發(fā)生在結(jié)邊緣表面，也可能發(fā)生在體內(nèi)。這一結(jié)果可通過熱傳導(dǎo)速率、硅和電極金屬的熔融溫度得到解釋。pn 結(jié)邊緣到熱沉的傳熱路徑比體內(nèi)長，傳熱較體內(nèi)慢，因此結(jié)邊緣溫度比體內(nèi)高。持續(xù)時間極短(ns 級)的高能量瞬態(tài)脈沖使邊緣溫度急劇升高，導(dǎo)致邊緣熱擊穿而燒毀。而持續(xù)時間較長(μs 以上)脈沖使邊緣熱量有足夠的時間傳至芯片周圍。隨著芯片溫度的升高，芯片中心周圍產(chǎn)生熔融通道。當(dāng)熔融從芯片的一表面延伸到另一表面時，硅片溫度超過1400 ℃，處于熔融和非晶狀態(tài)，成為導(dǎo)體，形成導(dǎo)電通路，使芯片短路。如果脈沖持續(xù)時間達到ms 級，例如，雷電產(chǎn)生的脈沖，還會使鉛錫焊料達到700 ℃以上而發(fā)生熔融。

(1)擊穿電壓測試：使用高精度的直流電源和電壓表，對雙向TVS管施加逐漸增大的電壓，直到器件擊穿。記錄擊穿電壓值，與器件規(guī)格書進行對比。

(2)漏電流測試：在擊穿電壓下，使用微安表測量雙向TVS管的漏電流，與器件規(guī)格書進行對比。

(3)電容測試：使用電容表測量雙向TVS管的電容值，與器件規(guī)格書進行對比。

(1)測試前應(yīng)確保測試設(shè)備精度高、穩(wěn)定性好。

(2)測試時應(yīng)嚴(yán)格按照器件規(guī)格書的要求進行。

(3)測試過程中應(yīng)注意安全，避免觸電等危險。

耐壓測試是檢驗雙向TVS管在高電壓沖擊下能否正常工作的測試方法，主要目的是評估器件的耐壓性能。

(1)正向耐壓測試：使用直流電源對雙向TVS管施加正向電壓，逐漸增大電壓值，直到器件擊穿或達到規(guī)定的最大測試電壓。

(2)反向耐壓測試：使用直流電源對雙向TVS管施加反向電壓，逐漸增大電壓值，直到器件擊穿或達到規(guī)定的最大測試電壓。

(1)測試前應(yīng)確保測試設(shè)備精度高、穩(wěn)定性好。

(2)測試時應(yīng)嚴(yán)格按照器件規(guī)格書的要求進行。

(3)測試過程中應(yīng)注意安全，避免觸電等危險。

反向恢復(fù)時間測試是評估雙向TVS管在經(jīng)歷正向?qū)ê?，恢?fù)到截止?fàn)顟B(tài)所需時間的測試方法，主要目的是評估器件的響應(yīng)速度。雙向瞬變抑制二極管(Bidirectional Transient Voltage Suppressor，簡稱TVS)是一種用于保護電子設(shè)備免受電壓瞬變影響的半導(dǎo)體器件。它具有快速響應(yīng)、高可靠性和低漏電流等特點，廣泛應(yīng)用于電源、信號線、數(shù)據(jù)線等電路中。本文將介紹雙向瞬變抑制二極管的檢測方法。雙向瞬變抑制二極管是一種具有雙向?qū)щ娞匦缘陌雽?dǎo)體器件。當(dāng)外加電壓超過其額定電壓時，TVS會迅速導(dǎo)通，將瞬態(tài)電壓限制在安全范圍內(nèi)，從而保護電路不受損害。當(dāng)外加電壓恢復(fù)正常后，TVS會迅速恢復(fù)到截止?fàn)顟B(tài)，不影響電路的正常工作。

在檢測雙向瞬變抑制二極管之前，需要了解其主要參數(shù)，包括：

(1)最大脈沖功率(Pp)：TVS能夠承受的最大脈沖功率，單位為瓦特(W)。

(2)反向工作電壓(Vrwm)：TVS在反向工作狀態(tài)下的電壓，單位為伏特(V)。

(3)擊穿電壓(Vbr)：TVS從截止?fàn)顟B(tài)到導(dǎo)通狀態(tài)的電壓，單位為伏特(V)。

(4)最大電流(Imax)：TVS能夠承受的最大電流，單位為安培(A)。

(5)電容(Cj)：TVS的寄生電容，單位為皮法拉(pF)。

檢測雙向瞬變抑制二極管的好壞，主要有以下幾種方法：(1)外觀檢查首先，對TVS的外觀進行檢查，看是否有裂紋、破損、燒毀等異常現(xiàn)象。如果外觀存在明顯缺陷，說明TVS可能已經(jīng)損壞。(2)萬用表檢測使用萬用表檢測TVS的正反向電阻。將萬用表調(diào)至二極管測量檔，分別測量TVS的正向和反向電阻。正常情況下，TVS的正向電阻較小，反向電阻較大。如果正反向電阻都很大或很小，說明TVS可能已經(jīng)損壞。(3)電容表檢測使用電容表檢測TVS的寄生電容。將電容表調(diào)至適當(dāng)?shù)牧砍?，測量TVS的兩端。正常情況下，TVS的寄生電容應(yīng)與規(guī)格書中的值相近。如果寄生電容值與規(guī)格書相差較大，說明TVS可能存在問題。

(4)示波器檢測使用示波器檢測TVS的響應(yīng)時間。將示波器的探頭連接到TVS的兩端，觸發(fā)源選擇外部觸發(fā)，觸發(fā)電平設(shè)置為TVS的擊穿電壓。然后給TVS施加一個脈沖電壓，觀察示波器上的波形。正常情況下，TVS的響應(yīng)時間應(yīng)在納秒級別。如果響應(yīng)時間較長，說明TVS的性能可能下降。(5)瞬態(tài)脈沖測試使用瞬態(tài)脈沖發(fā)生器對TVS進行測試。將瞬態(tài)脈沖發(fā)生器的輸出連接到TVS的兩端，設(shè)置脈沖電壓和脈沖寬度。然后給TVS施加瞬態(tài)脈沖，觀察TVS的響應(yīng)情況。正常情況下，TVS應(yīng)能迅速導(dǎo)通并限制瞬態(tài)電壓。如果TVS不能迅速導(dǎo)通或瞬態(tài)電壓超過安全范圍，說明TVS可能已經(jīng)損壞。

(6)溫度測試對TVS進行溫度測試，檢查其在不同溫度下的穩(wěn)定性。將TVS置于高溫或低溫環(huán)境下，使用示波器或瞬態(tài)脈沖發(fā)生器對其進行測試。正常情況下，TVS在不同溫度下的性能應(yīng)保持穩(wěn)定。如果TVS在高溫或低溫環(huán)境下性能下降，說明其穩(wěn)定性較差。在選用雙向瞬變抑制二極管時，應(yīng)遵循以下原則：(1)根據(jù)電路的額定電壓和最大電流選擇合適的TVS。(2)根據(jù)電路的信號類型和傳輸速率選擇合適的TVS，以避免信號失真。(3)根據(jù)電路的工作環(huán)境選擇合適的TVS，如溫度范圍、濕度等。(4)考慮TVS的封裝形式和安裝方式，以滿足電路的布局要求。

在使用雙向瞬變抑制二極管時，應(yīng)注意以下幾點：(1)確保TVS的額定電壓和最大電流滿足電路的要求。(2)避免TVS承受長時間的反向電壓，以免損壞其性能。(3)在TVS的兩端并聯(lián)一個適當(dāng)大小的電阻，以限制瞬態(tài)電流，防止TVS損壞。(4)在TVS的兩端并聯(lián)一個適當(dāng)大小的電容，以濾除高頻噪聲，提高電路的穩(wěn)定性。