隨著閃存顆粒持續(xù)運(yùn)行，ECC偵測(cè)到的錯(cuò)誤位數(shù)逐漸累積，導(dǎo)致氧化物層電子特性異常，最終引發(fā)數(shù)據(jù)讀取錯(cuò)誤——這也是許多工業(yè)級(jí)應(yīng)用中不容忽視的數(shù)據(jù)安全隱患。

Early Remove 技術(shù)

威剛工業(yè)級(jí)固態(tài)硬盤搭載Early Remove技術(shù)，當(dāng)讀取閃存區(qū)塊數(shù)據(jù)，經(jīng)過硬件偵測(cè)到無法完全由硬件糾正錯(cuò)誤時(shí)，會(huì)透過固件重試讀取直到糾正，當(dāng)重試的次數(shù)達(dá)到固件設(shè)定的條件時(shí)，自動(dòng)將數(shù)據(jù)遷移至新區(qū)塊，原區(qū)塊擦除轉(zhuǎn)為備用，從而：預(yù)防區(qū)塊損壞與讀取干擾、減少錯(cuò)誤數(shù)據(jù)產(chǎn)生、延長(zhǎng)設(shè)備壽命。

該技術(shù)顯著提升SSD的耐用性與數(shù)據(jù)可靠性，尤其適用于邊緣計(jì)算、AIoT、車聯(lián)網(wǎng)等高要求場(chǎng)景。

威剛工控全線產(chǎn)品（SATA與PCIe SSD）均已標(biāo)配這一技術(shù)，為工業(yè)用戶提供更可靠、更穩(wěn)定的存儲(chǔ)基礎(chǔ)。