晶圓代工龍頭臺(tái)積電(2330)新事業(yè)總經(jīng)理蔡力行昨(21)日證實(shí),臺(tái)積電與美商Stion達(dá)成策略聯(lián)盟后,今年底前,就會(huì)在中科興建臺(tái)積電薄膜太陽(yáng)能電池廠(chǎng),并在南科興建太陽(yáng)能發(fā)電廠(chǎng)支援當(dāng)?shù)?2吋廠(chǎng)Fab14用電。 蔡力行
聯(lián)電(2303)、爾必達(dá)(Elpida)及力成(6239)昨(21)日宣布,三方將結(jié)合在三維(3D)IC的設(shè)計(jì)、制造與封裝等優(yōu)勢(shì),投入開(kāi)發(fā)整合邏輯芯片及動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存(DRAM)的3D IC完整解決方案,并導(dǎo)入聯(lián)電的28奈米制程生
晶圓代工業(yè)者聯(lián)電(2303)執(zhí)行長(zhǎng)孫世偉于今(21)日表示,聯(lián)電將以自身在先進(jìn)邏輯制程上的技術(shù)優(yōu)勢(shì),與日商Elpida、力成(6239)等兩大業(yè)者在3D IC領(lǐng)域上進(jìn)行廣泛的技術(shù)合作,且預(yù)計(jì)會(huì)以TSV(Through-Silicon Via,直通硅晶穿
對(duì)晶體管制造誤差導(dǎo)致的SRAM工作不穩(wěn)定性,在芯片制造后的測(cè)試工序上加以改善的方法,由東京大學(xué)研究生院工學(xué)系研究科電氣系工學(xué)專(zhuān)業(yè)副教授竹內(nèi)健的研究小組與日本半導(dǎo)體理工學(xué)研究中心(STARC)聯(lián)手開(kāi)發(fā)成功。該項(xiàng)成
東芝在半導(dǎo)體制造技術(shù)相關(guān)國(guó)際會(huì)議“2010 Symposium on VLSI Technology”上宣布,其與日本CovalentMaterials、美國(guó)Tier Logic Inc.以及TeiTechnology共同在CMOS邏輯電路上以非晶硅TFT技術(shù)實(shí)現(xiàn)了SRAM的三維積層,即“
東京大學(xué)在半導(dǎo)體制造技術(shù)國(guó)際會(huì)議“2010 Symposium on VLSITechnology”上宣布,該公司與富士通微電子(現(xiàn)富士通半導(dǎo)體)、大日本印刷、富士通研究所以及迪思科(Disco)共同在厚度降至10μm以下的半導(dǎo)體晶圓上形成
益華計(jì)算機(jī)(Cadence)宣布其TLM (transaction-level modeling) 導(dǎo)向設(shè)計(jì)與驗(yàn)證、 3D IC 設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn),以及整合 DFM 等先進(jìn) Cadence 設(shè)計(jì)技術(shù)與流程,已經(jīng)融入臺(tái)積電(TSMC)設(shè)計(jì)參考流程11.0版中。同時(shí) Cadence也宣布支持
如圖3.30所示,采用ACTEL ACT-1門(mén)陣列實(shí)現(xiàn)的電路,當(dāng)輸入電壓變化時(shí),其輸出產(chǎn)生脈沖的概率有多大?簡(jiǎn)單應(yīng)用同步邏輯理論,它永遠(yuǎn)也不會(huì)發(fā)生。但現(xiàn)在我們會(huì)更好地理解這個(gè)問(wèn)題了。首先檢查最壞情況下建立時(shí)間:TPD=9
圖3.29是一個(gè)簡(jiǎn)化的數(shù)字觸發(fā)器原理圖。在這個(gè)例子中,為放大器提供了對(duì)稱(chēng)的正、負(fù)電壓。正反饋電路把電容C上的任何正電壓驅(qū)動(dòng)到電源正電壓,或者把電容C上的任何負(fù)電壓驅(qū)動(dòng)到電源負(fù)電壓。當(dāng)用時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)時(shí),電路會(huì)穩(wěn)定
圖3.24給出了CADILLAC時(shí)鐘相位調(diào)整電路的框圖。對(duì)于大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試,可能值得構(gòu)造這樣的電路。對(duì)于普通的實(shí)驗(yàn)測(cè)試,則太麻煩了。電路將總線(xiàn)時(shí)鐘進(jìn)行N分頻,然后通過(guò)一個(gè)-頻率比較器把它與一個(gè)同樣經(jīng)過(guò)N分頻的本地振蕩
圖3.23所示的電路,是一個(gè)16進(jìn)制的反相器,用于產(chǎn)生30~160NS的延遲。每一級(jí)的延遲時(shí)間是5~35NS,具體數(shù)值由可變電阻的值決定。每一級(jí)的延遲時(shí)間不應(yīng)該超過(guò)時(shí)鐘周期的12%,以保重穩(wěn)定工作。通過(guò)調(diào)整延遲級(jí)數(shù)(2或4)并
晶圓代工大廠(chǎng)聯(lián)電(2303-TW)今天與DRAM模塊廠(chǎng)力成(6239-TW)日本爾必達(dá)(Elpida)(6665-JP)共同宣布針對(duì)包括28奈米先進(jìn)制程直通硅晶穿孔(TSV)整合技術(shù)進(jìn)行合作。 聯(lián)電執(zhí)行長(zhǎng)孫世偉表示,有鑒于摩爾定律的成長(zhǎng)已經(jīng)趨緩
力成董事長(zhǎng)蔡篤恭今日表示,只要3D IC的TSV技術(shù)率先達(dá)成熟階段,市場(chǎng)需求自然會(huì)浮現(xiàn)。(巨亨網(wǎng)記者蔡宗憲攝) 日本DRAM晶圓大廠(chǎng)爾必達(dá)(6665-JP),臺(tái)灣晶圓代工大廠(chǎng)聯(lián)電(2303-TW)以及DRAM封測(cè)大廠(chǎng)力成(6239-TW)今(21
隨著半導(dǎo)體微縮制程演進(jìn),3D IC成為備受關(guān)注的新一波技術(shù),在3DIC時(shí)代來(lái)臨下,半導(dǎo)體龍頭大廠(chǎng)聯(lián)華電子、爾必達(dá)(Elpida)和力成科技將于21日,一起召開(kāi)記者會(huì)對(duì)外宣布共同開(kāi)發(fā)硅穿孔(TSV)3D IC制程。據(jù)了解,由聯(lián)電以邏
研究機(jī)構(gòu)iSuppli表示,力晶2010年首季銷(xiāo)售季成長(zhǎng)81%,已躍居全球第5大DRAM供應(yīng)廠(chǎng)。全球DRAM產(chǎn)業(yè)首季營(yíng)收比前1季成長(zhǎng)8.8%,根據(jù)iSuppli的資料,前5大DRAM廠(chǎng)約占全球整體DRAM產(chǎn)業(yè)營(yíng)收的91%,前2大廠(chǎng)三星電子(SamsungEl