如圖3.30所示,采用ACTEL ACT-1門陣列實(shí)現(xiàn)的電路,當(dāng)輸入電壓變化時,其輸出產(chǎn)生脈沖的概率有多大?簡單應(yīng)用同步邏輯理論,它永遠(yuǎn)也不會發(fā)生。但現(xiàn)在我們會更好地理解這個問題了。
首先檢查最壞情況下建立時間:
TPD=9.3NS(時鐘到Q1,建立時間很好)
TPD=9.3NS(反相器-異或門之和)
TSU=5.5NS/23.6NS(D2的建立時間)
任何小于42MHZ的時鐘(23.6NS)都能滿足傳播時間和建立時間。Y1和Y2始終匹配,輸出Q4永遠(yuǎn)也不會變成高電平。
電路唯一發(fā)生錯誤的可能是亞穩(wěn)態(tài)使得Q1轉(zhuǎn)換推遲,錯過了D2的建立時間窗口(因?yàn)榻?jīng)G1和G2的傳播延時),但Q1并沒有錯過D3。
如果實(shí)際時鐘F的速率小于42MHZ,我們可以算出Q1不錯過D2建立時間窗口的嚴(yán)穩(wěn)態(tài)延時預(yù)算。允許額外分配給亞穩(wěn)態(tài)的為:
這個TR延時稱為允許的判決時間。
Q1需要比TR更長的時間來達(dá)到穩(wěn)定,這個亞穩(wěn)態(tài)窗口是:
落在正負(fù)TW內(nèi),且在總的周期時間1/F之外的概率是:
ACTEL在1989年出版的“ACT-1 FANILY GATE ARRAYS PRODUCT GUIDE”列出了常數(shù)C和K。這里我們對兩個進(jìn)行調(diào)整,使之符合我們的單位體系:HZ和S。
以小時為單位的平均失效間隔時間,可以通過失效概率和輸入信號的轉(zhuǎn)換率R來計算得到。因?yàn)閬喎€(wěn)態(tài)僅僅在輸入信號變化時發(fā)生,如果輸入信號變化較快,則失效的概率也較大。
其中,MPBF=平均失效間隔時間,H
R=輸入信號轉(zhuǎn)換率真,HZ
PROB(失效)=在任意單個輸入信號轉(zhuǎn)換時的失效概率
圖3.31給出了MTBF與頻率的關(guān)系圖,這個圖假定輸入信號的轉(zhuǎn)換頻率時鐘頻率的1/10。在35MHZ時,失效概率是4*10的負(fù)12次方。如果電路每秒處理350萬次輸入,則每19小時發(fā)生一次失效。
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