近日，一項(xiàng)名為 “一種終端及 Type C 接口防腐蝕方法”的華為專利曝光，專利摘要顯示，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N終端及 Type C 接口的防腐蝕方法，用于降低 Type C 接口中 CC 引腳與其它引腳之間發(fā)生電化學(xué)腐蝕的幾率。

在終端中，處理器分別與運(yùn)動(dòng)傳感器和接口芯片連接;接口芯片分別與處理器和第一 Type C 接口中的 CC 引腳連接;運(yùn)動(dòng)傳感器，用于監(jiān)測(cè)終端的運(yùn)動(dòng)狀態(tài);處理器，用于根據(jù)運(yùn)動(dòng)傳感器監(jiān)測(cè)到的終端的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，在確定終端的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)由移動(dòng)狀態(tài)進(jìn)入靜止?fàn)顟B(tài)時(shí)，控制接口芯片將第一 Type C 接口的 CC 引腳配置為低電平模式。

由移動(dòng)狀態(tài)進(jìn)入靜止?fàn)顟B(tài)反應(yīng)出終端與外接設(shè)備斷開(kāi)連接，在此情況下將 CC 引腳配置為低電平模式，可以降低 CC 引腳的有效電平，進(jìn)而降低 CC 引腳與其它引腳之間發(fā)生電化學(xué)腐蝕的幾率。