功率MOSFET鋁接合線的連續(xù)電流實(shí)驗(yàn)
[導(dǎo)讀]通常功率MOSFET的數(shù)據(jù)表中定義了基于硅片結(jié)溫和封裝限制的額定連續(xù)漏極電流ID值,理論上基于接合線的熔化理論來計(jì)算接合線的電流限制值。功率MOSFET源極管腳的銅皮(內(nèi)部框架)可以有助于硅片的散熱,大多數(shù)情況下,功率MOSFET晶元的表面、線的接合處具有最高的電流密度,因此功率...
通常功率MOSFET的數(shù)據(jù)表中定義了基于硅片結(jié)溫和封裝限制的額定連續(xù)漏極電流ID值,理論上基于接合線的熔化理論來計(jì)算接合線的電流限制值。功率MOSFET源極管腳的銅皮(內(nèi)部框架)可以有助于硅片的散熱,大多數(shù)情況下,功率MOSFET晶元的表面、線的接合處具有最高的電流密度,因此功率MOSFET晶元的表面也是溫度最高的熱點(diǎn)。
功率MOSFET的塑料殼可以傳導(dǎo)熱量,從而顯著的降低導(dǎo)線的溫升。在自由空氣中,熔化的溫度限制了接合線導(dǎo)線的電流,如果溫度大于220oC,通常使用的外殼的塑料才會(huì)分解,因此溫度的限制也約束了允許的電流。
功率MOSFET連續(xù)漏極電流額定值接合線限制,以及功率MOSFET連續(xù)漏極電流額定值ID、脈沖電流額定值IDM,參考以前發(fā)表的文章。
看一下有趣的視頻吧,在自由空氣中,直徑為8mil的鋁材料的導(dǎo)線,10厘米長(zhǎng),猜猜電流是多少,鋁導(dǎo)線開始熔化?
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