IC驗(yàn)證中monitor到的數(shù)據(jù)能夠做什么？

時(shí)間：2021-11-03 14:55:37

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[導(dǎo)讀]在這個(gè)大數(shù)據(jù)時(shí)代，很多數(shù)據(jù)背后都蘊(yùn)含著無(wú)限的價(jià)值，芯片EDA驗(yàn)證過(guò)程中產(chǎn)生的數(shù)據(jù)也是一樣。?驗(yàn)證設(shè)計(jì)包括兩個(gè)部分：輸入激勵(lì)的產(chǎn)生和設(shè)計(jì)響應(yīng)的分析。輸入激勵(lì)部分將設(shè)計(jì)置于特定狀態(tài)，然后響應(yīng)分析部分執(zhí)行驗(yàn)證，即數(shù)據(jù)比對(duì)。testbench的分析部分由監(jiān)測(cè)輸出行為和判斷設(shè)計(jì)是否符合其規(guī)...

在這個(gè)大數(shù)據(jù)時(shí)代，很多數(shù)據(jù)背后都蘊(yùn)含著無(wú)限的價(jià)值，芯片EDA驗(yàn)證過(guò)程中產(chǎn)生的數(shù)據(jù)也是一樣。

驗(yàn)證設(shè)計(jì)包括兩個(gè)部分：輸入激勵(lì)的產(chǎn)生和設(shè)計(jì)響應(yīng)的分析。

輸入激勵(lì)部分將設(shè)計(jì)置于特定狀態(tài)，然后響應(yīng)分析部分執(zhí)行驗(yàn)證，即數(shù)據(jù)比對(duì)。testbench 的分析部分由監(jiān)測(cè)輸出行為和判斷設(shè)計(jì)是否符合其規(guī)范的部件組成，這些規(guī)范包括功能、性能和功耗等等。

分析部分從監(jiān)測(cè)DUT的響應(yīng)開(kāi)始，通過(guò)virtual interface觀察DUT上的信號(hào)級(jí)活動(dòng)。monitor 將信號(hào)級(jí)活動(dòng)轉(zhuǎn)換為TLM事務(wù)，并使用analysis ports將事務(wù)廣播到感興趣的分析組件（觀察者模式中的訂閱者）。這些分析組件獲取到事務(wù)，然后執(zhí)行“數(shù)據(jù)分析”。