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文章數(shù)883
  • 學(xué)子專區(qū)—ADALM2000實(shí)驗(yàn):光耦合器

    光耦合器或光隔離器是一種電子器件,通過發(fā)射光穿過其輸入和輸出之間的電氣隔離柵來傳輸電子信號(hào)。光耦合器的主要目的是防止隔離柵一側(cè)的高電壓或電壓尖峰損壞組件或干擾傳輸?shù)搅硪粋?cè)的信號(hào)。市售光耦合器可以承受3 kV至10 kV的輸入-輸出電壓,以及速度高達(dá)10 kV/μs的電壓瞬變。

  • 安全電子認(rèn)證如何降低即時(shí)檢測的風(fēng)險(xiǎn)

    隨著即時(shí)檢測(PoC)的不斷普及,在自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)室環(huán)境外進(jìn)行體外診斷(IVD)檢測的數(shù)量顯著增加。本文探討了與PoC診斷檢測相關(guān)的安全挑戰(zhàn)、患者樣本重復(fù)使用和誤用的影響、以及檢測產(chǎn)品制造商如何通過安全電子認(rèn)證降低風(fēng)險(xiǎn)的方法。

  • 如何正確選擇電感電流紋波

    開關(guān)穩(wěn)壓器將輸入電壓轉(zhuǎn)換為更高或更低的輸出電壓。為此,需要使用電感來暫時(shí)儲(chǔ)存電能。電感的尺寸取決于開關(guān)穩(wěn)壓器的開關(guān)頻率和流經(jīng)電路的預(yù)期電流。究竟應(yīng)如何正確選擇電感值?可以使用包含電感電流紋波的常用公式來確定電感值。在大部分開關(guān)穩(wěn)壓器的數(shù)據(jù)手冊,以及大部分應(yīng)用筆記和其他說明文本中,電感電流紋波建議在標(biāo)稱負(fù)載工作的30%。這意味著在標(biāo)稱負(fù)載電流下,電感電流波峰和電感電流波谷分別比平均電流高15%和低15%。為何選擇30%的電感電流紋波或電流紋波比(CR)可以說是不錯(cuò)的折衷方案?

  • 如何組合使用低通濾波器和ADC驅(qū)動(dòng)器獲取20 V p-p信號(hào)

    為了減小模擬信號(hào)鏈的尺寸,降低其成本,并提供ADC抗混疊保護(hù)(ADC采樣頻率周圍頻段中的ADC輸入信號(hào)不受數(shù)字濾波器保護(hù),必須由模擬低通濾波器(LPF)進(jìn)行衰減)。20 V p-p LPF驅(qū)動(dòng)器一般用于工業(yè)、科技和醫(yī)療(ISM)設(shè)備中,該設(shè)備必須使用具有更低滿量程輸入的高速ADC對(duì)傳統(tǒng)的20 V p-p信號(hào)范圍進(jìn)行數(shù)字化處理。

  • 學(xué)子專區(qū)—ADALM2000實(shí)驗(yàn):鎖相環(huán)

    本實(shí)驗(yàn)活動(dòng)介紹鎖相環(huán)(PLL)。PLL電路有一些重要的應(yīng)用,例如信號(hào)調(diào)制/解調(diào)(主要是頻率和相位調(diào)制)、同步、時(shí)鐘和數(shù)據(jù)恢復(fù),以及倍頻和頻率合成。在這項(xiàng)實(shí)驗(yàn)中,您將建立一個(gè)簡單的PLL電路,讓您對(duì)PLL操作有基本的了解。

  • 使用集成MOSFET限制電流的簡單方法

    電子電路中的電流通常必須受到限制。例如,在USB端口中,必須防止電流過大,以便為電路提供可靠的保護(hù)。同樣,在充電寶中,必須防止電池放電。放電電流過高會(huì)導(dǎo)致電池的壓降太大和下游設(shè)備的供電電壓不足。

  • 訓(xùn)練卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò):什么是機(jī)器學(xué)習(xí)?——第二部分

    本文是系列文章的第二部分,重點(diǎn)介紹卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(CNN)的特性和應(yīng)用。CNN主要用于模式識(shí)別和對(duì)象分類。在第一部分文章《卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)簡介:什么是機(jī)器學(xué)習(xí)?——第一部分》中,我們比較了在微控制器中運(yùn)行經(jīng)典線性規(guī)劃程序與運(yùn)行CNN的區(qū)別,并展示了CNN的優(yōu)勢。我們還探討了CIFAR網(wǎng)絡(luò),該網(wǎng)絡(luò)可以對(duì)圖像中的貓、房子或自行車等對(duì)象進(jìn)行分類,還可以執(zhí)行簡單的語音識(shí)別。本文重點(diǎn)解釋如何訓(xùn)練這些神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)以解決實(shí)際問題。

  • 卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)簡介:什么是機(jī)器學(xué)習(xí)?——第一部分

    隨著人工智能(AI)技術(shù)的快速發(fā)展,AI可以越來越多地支持以前無法實(shí)現(xiàn)或者難以實(shí)現(xiàn)的應(yīng)用。本系列文章基于此解釋了卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(CNN)及其對(duì)人工智能和機(jī)器學(xué)習(xí)的意義。CNN是一種能夠從復(fù)雜數(shù)據(jù)中提取特征的強(qiáng)大工具,例如識(shí)別音頻信號(hào)或圖像信號(hào)中的復(fù)雜模式就是其應(yīng)用之一。本文討論了CNN相對(duì)于經(jīng)典線性規(guī)劃的優(yōu)勢,后續(xù)文章《訓(xùn)練卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò):什么是機(jī)器學(xué)習(xí)?——第二部分》將討論如何訓(xùn)練CNN模型,系列文章的第三部分將討論一個(gè)特定用例,并使用專門的AI微控制器對(duì)模型進(jìn)行測試。

  • 混合信號(hào)PCB布局設(shè)計(jì)的基本準(zhǔn)則

    本文詳細(xì)說明在設(shè)計(jì)混合信號(hào)PCB的布局時(shí)應(yīng)考慮的內(nèi)容。本文將涉及元件放置、電路板分層和接地平面方面的考量。本文討論的準(zhǔn)則為混合信號(hào)板的布局設(shè)計(jì)提供了一種實(shí)用方法,對(duì)所有背景的工程師應(yīng)當(dāng)都能有所幫助。

  • ADALM2000實(shí)驗(yàn):數(shù)模轉(zhuǎn)換

    我們將簡單的CMOS反相器邏輯門用作一對(duì)開關(guān)。ADALM2000模塊的數(shù)字I/O信號(hào)可配置為具有+3.3 V電源電壓的標(biāo)準(zhǔn)CMOS分壓器(推挽模式)。采用最簡單的形式,CMOS輸出可以由一個(gè)PMOS器件M1和一個(gè)NMOS器件M2組成。通常,CMOS制造工藝經(jīng)過特別設(shè)計(jì),使得NMOS和PMOS器件的閾值電壓VTH大致相等——即互補(bǔ)。然后,反相器的設(shè)計(jì)人員調(diào)整NMOS和PMOS器件的寬長比W/L,使其各自的跨導(dǎo)和RON也相等。兩個(gè)晶體管中,只有一個(gè)處于導(dǎo)通狀態(tài),同時(shí)將輸出端連接到VDD或VSS。我們可以考慮將這兩個(gè)電壓用作DAC的基準(zhǔn)電壓源。

  • 電能質(zhì)量監(jiān)測第2部分:符合標(biāo)準(zhǔn)的電能質(zhì)量儀表的設(shè)計(jì)考慮因素

    本文介紹如何借助即用型平臺(tái)加快開發(fā)速度,高效設(shè)計(jì)符合標(biāo)準(zhǔn)的電能質(zhì)量(PQ)測量儀表。文中詳細(xì)探討設(shè)計(jì)A類和S類電能表的不同解決方案,包括新的S類電能質(zhì)量測量集成解決方案,該方案可大幅縮短電能質(zhì)量監(jiān)測產(chǎn)品的開發(fā)時(shí)間并降低成本。文章“電能質(zhì)量監(jiān)測第1部分:符合標(biāo)準(zhǔn)的電能質(zhì)量測量的重要性”詳細(xì)闡述了電能質(zhì)量IEC標(biāo)準(zhǔn)及其參數(shù)。

  • 電能質(zhì)量監(jiān)測第1部分:符合標(biāo)準(zhǔn)的電能質(zhì)量測量的重要性

    本文討論了電能質(zhì)量(PQ)測量在當(dāng)今電力基礎(chǔ)設(shè)施中的重要性,并回顧了PQ監(jiān)測的應(yīng)用領(lǐng)域。本文將介紹IEC電能質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)及其參數(shù)。最后,本文總結(jié)了A類和S類電能質(zhì)量儀表的主要區(qū)別。后續(xù)文章將闡述關(guān)于“如何設(shè)計(jì)符合標(biāo)準(zhǔn)的電能質(zhì)量儀表”的推薦解決方案。

  • 集成式光學(xué)接收器如何滿足床旁檢測儀器的未來需求

    體外診斷(IVD)系統(tǒng)依賴光學(xué)接收器技術(shù)來獲得高靈敏度的具體診斷結(jié)果,諸如ELISA和PCR等成熟技術(shù)即利用熒光光學(xué)接收鏈來執(zhí)行診斷檢測。同樣地,床旁檢測(PoC)也采用光學(xué)接收器作為強(qiáng)有力的工具來創(chuàng)建準(zhǔn)確、靈活、快速的系統(tǒng)以獲取結(jié)果。本文詳細(xì)介紹了設(shè)計(jì)光學(xué)PoC接收鏈時(shí)需考慮的關(guān)鍵因素,闡釋了集成式光學(xué)前端能滿足這些性能需求的原因及相應(yīng)的關(guān)鍵優(yōu)勢——助力構(gòu)建適應(yīng)未來需求的平臺(tái)。

  • 精密系統(tǒng)的實(shí)用RTI計(jì)算

    本文簡要介紹了精密系統(tǒng)中的參考到輸入(RTI)的計(jì)算和仿真,以及如何從中獲得盡可能多的重要信息。在設(shè)計(jì)用于模擬測量的信號(hào)鏈時(shí),必須考量信號(hào)鏈中不同組件導(dǎo)致的誤差和噪聲,用于確定最高性能。規(guī)格可以用百分比(分?jǐn)?shù))表示,或者如果是線性系統(tǒng),可以參考到輸出或參考參考到輸入。參考到輸入的計(jì)算往往會(huì)造成誤解,但能夠提供有關(guān)系統(tǒng)性能的重要信息。

  • 電池快速充電指南——第1部分

    雖然更高的電池容量延長了設(shè)備的使用時(shí)間,但如何縮短充電時(shí)間,這給設(shè)計(jì)人員帶來了額外的挑戰(zhàn)??焖俪潆娺m用于廣泛的設(shè)備,包括消費(fèi)電子、醫(yī)療和工業(yè)應(yīng)用。本文分為兩部分,概要介紹與實(shí)現(xiàn)電池快速充電功能相關(guān)的挑戰(zhàn)。第1部分探討在主機(jī)和電池包之間分隔充電器和電量表,以提高系統(tǒng)的靈活性、盡可能降低功耗,并提升用戶的總體體驗(yàn)。此外,還介紹設(shè)備包含的監(jiān)測功能,確保實(shí)現(xiàn)安全充電和放電。第2部分探討使用并聯(lián)電池實(shí)現(xiàn)快速充電系統(tǒng)。

簡介
Analog Devices, Inc.(簡稱ADI)始終致力于設(shè)計(jì)與制造先進(jìn)的半導(dǎo)體產(chǎn)品和優(yōu)秀解決方案,憑借杰出的傳感、測量和連接技術(shù),搭建連接真實(shí)世界和數(shù)字世界的智能化橋梁,從而幫助客戶重新認(rèn)識(shí)周圍的世界。
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