中國，北京 — 2023年2月17日 — Analog Devices, Inc. (Nasdaq: ADI)誠邀公眾參與2023年世界移動通信大會(MWC)，期待通過演示互動和專家研討，一同體驗未來的連接技術。歡迎您到訪2號展廳#2B18號展位，近距離了解ADI公司在降低能耗、縮短設計周期、改變未來工作方面的解決方案，以及如何將環(huán)境影響最小化，實現(xiàn)并加速突破性創(chuàng)新，進而為人們帶來多彩生活。
為數(shù)據(jù)處理、網(wǎng)絡、便攜式、可穿戴和其他計算應用設計并優(yōu)化電源解決方案，需要對電壓和電流進行精確、寬帶、高動態(tài)范圍的測量。這些系統(tǒng)可能包含一個、數(shù)十個或數(shù)百個中央處理單元(CPU)、圖形處理單元 (GPU)、網(wǎng)絡接口、存儲硬件和各種支持電路。為了響應不斷變化的系統(tǒng)需求，這些電路可能在幾微秒內(nèi)從消耗數(shù)微安電流的空閑狀態(tài)轉(zhuǎn)換到消耗數(shù)百安培電流的滿載狀態(tài)。
評估板(EVB)及其配套軟件具有即插即用功能，可輕松評估ADI產(chǎn)品的性能。其圖形用戶界面(GUI)提供了直觀的方式，可進行手動配置并與該設備通信。但是，在更復雜的產(chǎn)品中，如果不能自動處理這些重復性任務，那么在評估所有可用功能的同時，掃描產(chǎn)品的所有附加功能可能會變得非常耗時。
雖然世界繼續(xù)更加數(shù)字化，計算能力和數(shù)字功能愈發(fā)關鍵，但測量環(huán)境和與實際器件交互的需求仍然是一種模擬功能。為了在數(shù)字和模擬域的邊界運行，處理器必須包括混合信號輸入/輸出，并適應更多的軟件可編程范圍，從而支持許多工業(yè)、儀器儀表和自動化應用。
在《牛津英語詞典》中，可持續(xù)發(fā)展的最新定義是“環(huán)境上可持續(xù)的特性;在避免自然資源長期耗盡的同時，可以維持或繼續(xù)運行某種過程或某家企業(yè)的程度?！边@是一個復雜的概念，有三個方面值得談論。
下次去主街(Main St.)的時候，不妨四處看看，親眼見證汽車行業(yè)正在發(fā)生的變化：電動汽車(EV)的普及已進入白熱化。事實上，預計到2025年，售出的車輛中高達10%將采用電池動力，盡管目前這一比例仍不足2%1。
一元復始，萬象更新。新年開工已經(jīng)一周，每個人對新的一年都寄予希望，心懷憧憬的同時，我們也在此刻審視周圍的環(huán)境，討論新年的愿景。新的一年世界仍然面臨著大大小小的挑戰(zhàn)，即使是最權威的經(jīng)濟學家也無法給出確切的預測。如果從更長的時間范疇來看，技術與人類進步的腳步卻從未停歇，貫穿各種上上下下的周期，這也許是對長期主義最好的詮釋。ADI的logo下面有一行小字“超越一切可能”，我想這也是擁有信心與韌性的ADI人對新年表達的期待。
市場上有數(shù)千款不同的開關穩(wěn)壓器，用戶會基于不同的參數(shù)選擇所需的類型，例如輸入電壓范圍、輸出電壓范圍、最大輸出電流，以及許多其他參數(shù)。本文ADI將針對電流模式進行介紹，這是數(shù)據(jù)手冊中常見的一項重要特性，同時還會分析此模式的優(yōu)缺點。
對于功率轉(zhuǎn)換器，寄生參數(shù)最小的熱回路PCB布局能夠改善能效比，降低電壓振鈴，并減少電磁干擾(EMI)。ADI將在本文討論如何通過最小化PCB的等效串聯(lián)電阻(ESR)和等效串聯(lián)電感(ESL)來優(yōu)化熱回路布局設計。文中研究并比較了影響因素，包括解耦電容位置、功率FET尺寸和位置以及過孔布置。通過實驗驗證了分析結果，并總結了最小化PCB ESR和ESL的有效方法。
在設計開關模式電源時，優(yōu)化電路板布局是一個重要的方向。合理布局可以確保開關穩(wěn)壓器保持穩(wěn)定工作，并盡可能降低輻射干擾和傳導干擾(EMI)。這一點電子開發(fā)人員都很清楚。但是，大家并不知道，開關模式電源的優(yōu)化電路板布局應該是什么樣子的。
中國，北京 — 2023年1月30日 — Analog Devices, Inc.(Nasdaq：ADI)近日宣布，公司董事會主席兼首席執(zhí)行官Vincent Roche成為世界經(jīng)濟論壇首席執(zhí)行官氣候領袖聯(lián)盟(Alliance of CEO Climate Leaders)成員。該聯(lián)盟由120多位來自大型跨國企業(yè)的首席執(zhí)行官和高管組成，致力于加快產(chǎn)業(yè)價值鏈中氣候變化行動的步伐。ADI公司是率先加入該聯(lián)盟的半導體公司。
環(huán)路補償是設計DC-DC轉(zhuǎn)換器的關鍵步驟。如果應用中的負載具有較高的動態(tài)范圍，設計人員可能會發(fā)現(xiàn)轉(zhuǎn)換器不再能穩(wěn)定的工作，輸出電壓也不再平穩(wěn)，這是由于控制環(huán)路穩(wěn)定性或帶寬帶來的影響。了解環(huán)路補償理論有助于設計人員處理典型的板級電源應用問題。
在ADI看來，必須確保測量精度不受PCB或測試裝置的雜散電容和電感影響。您可以通過使用低電容探頭、在PCB上使用短連接線，并且避免在信號走線下大面積鋪地來盡可能規(guī)避這些問題。
源極和漏極之間的關斷電容CDS(OFF)可用來衡量關斷開關后，源極信號耦合到漏極的能力。它是固態(tài)繼電器(如PhotoMOS?、OptoMOS?、光繼電器或MOSFET繼電器)中常見的規(guī)格參數(shù)，在固態(tài)繼電器數(shù)據(jù)手冊中通常稱為輸出電容COUT。CMOS開關通常不包含此規(guī)格參數(shù)，但關斷隔離度是表征相同現(xiàn)象的另一種方法，關斷隔離度定義為，開關關斷狀態(tài)下，耦合到漏極的源極的信號量。ADI將在本文討論如何從關斷隔離度推導出COUT，以及如何通過它來更有效地比較固態(tài)繼電器和CMOS開關的性能。這一點很重要，因為CMOS開關適合許多使用固態(tài)繼電器的應用，例如切換直流信號和高速交流信號。
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