全球示波器市場的領導廠商—泰克公司日前宣布，其SuperSpeed USB解決方案為NEC電子符合USB 3.0標準的主機提供信號質量監(jiān)測，該主機是世界首款獲得USB設計者論壇USB 3.0認證的產品。
作為設計和生產集成電路的全球領導企業(yè)，NEC電子選擇與泰克合作，驗證其新的硅元件以滿足新興的SuperSpeed USB標準(USB3.0)要求。USB技術已經迅速被公認為連接電腦及外設的行業(yè)標準，與其它先進的高速接口如PCI Express 2.0和SATA Gen 3等相比，USB 3.0的性能可以支持高達5Gbps的數(shù)據速率，如此高的性能為測試測量帶來了更復雜的挑戰(zhàn)。為解決這些挑戰(zhàn)，必須使用高性能、高靈活度的測量設備，以及能夠加快和簡化設計、測量和分析過程的工具。借助泰克USB 3.0測試解決方案，NEC電子這類企業(yè)的工程師們可以對USB設備進行檢定、調試和一致性測試，自動實現(xiàn)余量和一致性測試。對關鍵的USB 3.0接收機余量測試，泰克AWG7122B任意波形發(fā)生器則可提供無可比擬的信號生成靈活度，可以幫助客戶更快地把符合USB 3.0標準的產品推向市場。
泰克公司技術解決方案部市場經理Dave Slack表示：“泰克一直與NEC電子保持密切合作，共同驗證、測試和調試SuperSpeed USB。今天，我們非常榮幸能為NEC電子的產品開發(fā)做出貢獻，從而使其在業(yè)內率先獲得USB 3.0認證?！?/FONT>
泰克USB 3.0解決方案
泰克SuperSpeed USB一致性測試解決方案基于一整套可提供優(yōu)異的測量性能，滿足高速串行協(xié)議需求的儀器，包括實時和采樣示波器、任意波形發(fā)生器等。例如，DSA71254B實時示波器提供了高帶寬和低噪聲環(huán)境，可準確地捕獲和分析快速串行信號時鐘速率。對一致性測試中的眼圖分析和余量測試，匹配的示波器采集系統(tǒng)變得至關重要。與其類似的是，AWG7122B任意波形發(fā)生器提供了復雜的波形，可以模擬傳輸路徑的劣化效應，支持接收機測試。這些硬件工具與專業(yè)應用軟件配合使用，如DPOJET抖動和眼圖分析工具、SerialXpress高級抖動生成工具和TekExpress™ USB 3.0自動一致性測試軟件等，為工程師檢驗和調試設計提供了所需的工具。
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