“2021羅德與施瓦茨高速數(shù)字與功率電子測試大會”將在4月13至14日以在線的形式召開，邀請來自硅谷和歐洲等多位半導(dǎo)體測試專家來分享關(guān)于PCIe/USB/DDR/HDMI 高速數(shù)字芯片設(shè)計與測試和功率電子的最新技術(shù)。參會者將實時聆聽技術(shù)主題演講，參觀在線展覽，還可以與參會專家分不同技術(shù)主題互動聊天。

會議第一天將從硅谷芯片公司Clear Signal Solutions的總裁Jim Drewniak的主題演講開始，他將圍繞高速數(shù)字設(shè)計中的信號和電源完整性進行分享。第二天主題演講標題為“碳化硅是高壓功率電子的未來”，由全球領(lǐng)先的碳化硅功率電子制造商United SiC的總裁兼首席執(zhí)行官Chris Dries博士來分享。參會者可以在兩天大會的演講間隙參觀虛擬展區(qū)。

“2021羅德與施瓦茨高速數(shù)字與功率電子測試大會”為期兩天， 4月13日的主題是高速數(shù)字設(shè)計，4月14日的主題是功率電子?；顒泳唧w時間為歐洲中部時間09:00至17:00(北京時間15:00至23:00)。

? 高速數(shù)字設(shè)計的主題包括帶有新信號完整性、電源完整性測試方案及其重要性。此外，還將介紹如何進行有效且成功的設(shè)計、驗證、調(diào)試、高速數(shù)字芯片一致性測試和認證的策略分析。

? 功率電子的主題包括功率電子器件評估和測試、開關(guān)分析和變頻器設(shè)計、電池和BMS以及電源設(shè)備的EMI診斷。