1 引 言

發(fā)射光譜層析(EST)技術(shù)是一種不干擾原待測(cè)場(chǎng)分布的測(cè)量診斷技術(shù)，他在熱物理量測(cè)試、等離子體診斷等方面顯示出了極大的優(yōu)越性，尤其是在場(chǎng)分布測(cè)量方面，幾乎是其他方法不可替代的，是測(cè)量三維流場(chǎng)內(nèi)部物理量分布的一種常用方法。

傳統(tǒng)的層析重建技術(shù)，通常是利用軟件編程在計(jì)算機(jī)上直接完成，這要花費(fèi)很長(zhǎng)的時(shí)間，無(wú)法滿足實(shí)時(shí)重建時(shí)對(duì)速度的要求，現(xiàn)在已有研究者開(kāi)始著手研究在硬件(例如FPGA和DSP)上來(lái)實(shí)現(xiàn)層析重建技術(shù)，例如：在FPGA上實(shí)現(xiàn)ART算法。但是，由于ART算法在重建圖像時(shí)對(duì)噪聲的抑制能力較差，迭代格式復(fù)雜，且有除法運(yùn)算，用FPGA實(shí)現(xiàn)起來(lái)較為復(fù)雜。同時(shí)迭代重建算法--SIRT能夠有效抑制測(cè)量誤差的影響，迭代格式簡(jiǎn)單，得到廣泛應(yīng)用，但該法用FPGA(現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列)來(lái)實(shí)現(xiàn)時(shí)，牽涉到小數(shù)運(yùn)算問(wèn)題。因?yàn)樵贔PGA中數(shù)據(jù)都是以二進(jìn)制形式參與存儲(chǔ)、運(yùn)算的，小數(shù)計(jì)算問(wèn)題是FPGA應(yīng)用中的一大難點(diǎn)，目前業(yè)界用FPGA來(lái)處理小數(shù)大都采用定點(diǎn)處理，這種方法行之有效，但應(yīng)用范圍很有限，對(duì)于在層析重建中的小數(shù)，采用定點(diǎn)運(yùn)算是無(wú)法處理的。

本文提出一種處理小數(shù)的方法，即把將要參與運(yùn)算的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754的二進(jìn)制單精度浮點(diǎn)數(shù)，然后調(diào)用Altera開(kāi)放的浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算IP核對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算，Altera提供的IP核是Altera公司經(jīng)過(guò)嚴(yán)格測(cè)試和優(yōu)化過(guò)的電路功能模塊，在設(shè)計(jì)項(xiàng)目時(shí)調(diào)用IP核既減少了設(shè)計(jì)中的工作量，又在一定程度上節(jié)省了芯片資源，為迭代層析實(shí)時(shí)重建提供了可能。SIRT算法較ART算法迭代格式簡(jiǎn)單，且更易減小重建誤差，提高重建速度，更適用于實(shí)時(shí)重建。FPGA在設(shè)計(jì)時(shí)采用Verilog編程和調(diào)用Altera的開(kāi)放IP核相結(jié)合的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)，軟件設(shè)計(jì)和綜合模擬仿真在QuartusⅡ5.1開(kāi)發(fā)平臺(tái)中完成，最后給出了一些模塊仿真的波形。

2 SIRT算法

SIRT算法的迭代格式為：

其中P是測(cè)量數(shù)據(jù)，WT是投影矩陣W的轉(zhuǎn)置，λ為松弛因子，F(xiàn)是重建量。

物理意義為：取測(cè)量向量的反投影作為初始圖像，在求k+1次估計(jì)F(k+1)時(shí)，利用k次估計(jì)F(k)加上校正圖像。校正圖像正比于第k次估計(jì)的誤差矢量的反投影WT*(P-W*F(k))。因而每個(gè)像素的校正值實(shí)際是通過(guò)該像素的所有射線和的誤差值之累加，而不是只與一條射線有關(guān)，這也是SIRT能有效地抑制測(cè)量數(shù)據(jù)中噪聲的根本原因。由于每一像素的校正值是所有過(guò)該像素射線的共同貢獻(xiàn)，一些隨機(jī)誤差被平均掉了，因此SIRT的校正過(guò)程被稱為逐點(diǎn)校正。其中松弛因子的選取，會(huì)對(duì)誤差收斂曲線產(chǎn)生影響，如果環(huán)境不變，松弛因子可以固定。 3 IEEE754對(duì)浮點(diǎn)數(shù)的規(guī)定

標(biāo)準(zhǔn)浮點(diǎn)數(shù)字長(zhǎng)由一個(gè)符號(hào)位S、指數(shù)E和無(wú)符號(hào)(小數(shù))的規(guī)格化尾數(shù)M構(gòu)成。其格式如下：


考慮一個(gè)由一位符號(hào)位，E=8位指數(shù)寬度和M=23位的尾數(shù)(不包括隱藏的1)組成的浮點(diǎn)數(shù)表達(dá)式。現(xiàn)在來(lái)研究545.2510在單精度浮點(diǎn)數(shù)格式下的表達(dá)形式。由bias=2E-1-1計(jì)算偏移量如下：

定義二進(jìn)制浮點(diǎn)數(shù)算法的IEEE754-1985標(biāo)準(zhǔn)還定義了一些其他有用的特殊數(shù)的處理，例如溢出和下溢。指數(shù)E=Emax=1…12與0尾數(shù)m=0組合是為∞保留的，0是用0指數(shù)E=Emin=0…02和與0尾數(shù)m=0編碼的，注意由于有符號(hào)尾數(shù)表達(dá)式、正零和負(fù)零編碼是不同的，在IEEE754標(biāo)準(zhǔn)中還定義了兩個(gè)特殊數(shù)，但在FPGA浮點(diǎn)數(shù)算法中通常都不支持這些其他的表達(dá)式。這些其他數(shù)字是非正規(guī)數(shù)和(denormal)NaNs(not a number，非數(shù)字)。

4小數(shù)的預(yù)處理

IP核來(lái)計(jì)算數(shù)據(jù)時(shí)，輸入數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)都應(yīng)為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754的二進(jìn)制單精度浮點(diǎn)數(shù)，這樣就要求在進(jìn)行浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算之前，先要對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理使測(cè)量值P和投影矩陣W的值轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)的二進(jìn)制浮點(diǎn)數(shù)。

預(yù)處理步驟如下：

(1)對(duì)于測(cè)量數(shù)據(jù)P，他是由CCD采集并經(jīng)10位A／D轉(zhuǎn)換，使測(cè)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為10位二進(jìn)制整數(shù)，然后經(jīng)過(guò)數(shù)據(jù)預(yù)處理模塊，把數(shù)據(jù)處理轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754的二進(jìn)制單精度浮點(diǎn)數(shù)，輸入到外部寄存器P等待調(diào)用。

(2)對(duì)于投影矩陣W，如果圖像大小一定，則投影矩陣W也是固定的，可先由Matlab仿真生成并處理轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754的二進(jìn)制單精度浮點(diǎn)數(shù)，然后存到W寄存器，等待調(diào)用。

在此只討論由FPGA處理的部分，即只討論對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)P的預(yù)處理，而對(duì)于W矩陣的值則可由Matlab編程處理完成，在此不再贅述。

流程圖如圖2所示。

5模擬與仿真

對(duì)于測(cè)量值P，他是由面陣CCD采集，并經(jīng)有自制的10位A／D轉(zhuǎn)換得來(lái)的二進(jìn)制整數(shù)，根據(jù)其數(shù)據(jù)特點(diǎn)，可以采用移位，然后按規(guī)律重組就能將其變?yōu)镮EEE標(biāo)準(zhǔn)754的二進(jìn)制單精度浮點(diǎn)數(shù)。

5.1預(yù)處理P的模塊

測(cè)量數(shù)據(jù)P為二進(jìn)制整數(shù)，將其轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754形式，只需要先對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)，若數(shù)據(jù)為正則符號(hào)位S=0，否則S=1；然后找出為"1"的最高位，設(shè)為"1"的最高位為第L位，則保留P[L-1：0]作為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754的尾數(shù)M的高位，然后在其后補(bǔ)"0"至23位，即得尾數(shù)M；而L的值即為指數(shù)e，則E=e+127。假設(shè)P[9：0]=0001011011，則為"1"的最高位為P[6]，保留P[5：0]作為尾數(shù)M[22：0]的高位，然后在后面補(bǔ)"0"，即得尾數(shù)M，在此M=01101100000000000000000，而指數(shù)e為6，則E[7：0]的大小為E=e+127，在此即為133，即為二進(jìn)制的10000101，此處為S=0，則P轉(zhuǎn)化后的值為Pout[31：0]=01000010101101100000000000000000，仿真結(jié)果如圖3所示。

顯然仿真結(jié)果是正確的。

按照IEEE標(biāo)準(zhǔn)754形式，把測(cè)量所得數(shù)據(jù)P和投影矩陣W的值預(yù)處理轉(zhuǎn)化為IEEE標(biāo)準(zhǔn)754形式以后，即可進(jìn)行運(yùn)算。

5.2 浮點(diǎn)加法器的實(shí)現(xiàn)

兩浮點(diǎn)數(shù)相加，設(shè)兩個(gè)IEEE標(biāo)準(zhǔn)754單精度浮點(diǎn)數(shù)分別為01000000011000000000000000000000和01000000010000000000000000000000，即為十進(jìn)制的3.5和3，調(diào)用浮點(diǎn)加法IP核，仿真波形圖如圖4所示。
由仿真波形圖可見(jiàn)相加結(jié)果為01000000110100000000000000000000，即為十進(jìn)制的6.5，顯然結(jié)果是正確的。

5.3 浮點(diǎn)乘法器的實(shí)現(xiàn)

兩浮點(diǎn)數(shù)相乘，設(shè)兩數(shù)均為01000000011000000000000000000000，即為十進(jìn)制的3.5，調(diào)用浮點(diǎn)數(shù)乘法IP核，進(jìn)行仿真。仿真結(jié)果如圖5所示。

由仿真波形圖可見(jiàn)兩數(shù)相乘結(jié)果為01000001010001000000000000000000，為十進(jìn)制數(shù)的12.25，即結(jié)果是正確的。

6 結(jié) 語(yǔ)

通過(guò)以上討論分析，本文提出的基于FPGA的處理小數(shù)的方法是可行的，不僅解決了在FPGA上實(shí)現(xiàn)發(fā)射光譜層析SIRT算法時(shí)的小數(shù)問(wèn)題，同時(shí)也拓寬了FPGA的應(yīng)用范圍，使得FPGA不只能處理整數(shù)還可以處理小數(shù)，突破了以往FPGA處理小數(shù)時(shí)只能用定點(diǎn)處理的限制，同時(shí)本文巧妙地利用了經(jīng)過(guò)嚴(yán)格測(cè)試和優(yōu)化的Altera開(kāi)放的IP核并結(jié)合自編Verilog程序，這樣既減少了設(shè)計(jì)中的工作量，又可以在一定程度上節(jié)省硬件資源，提高系統(tǒng)運(yùn)行速度，向發(fā)射光譜實(shí)時(shí)層析重建邁了有意義的一步。