MCU應(yīng)用涵蓋於DVD、機(jī)上盒、數(shù)位相機(jī)和各類數(shù)位消費(fèi)電子產(chǎn)品。由於低價(jià)格、效能提升、輔以應(yīng)用領(lǐng)域不斷開展更加廣泛地支撐，目前低階MCU產(chǎn)品依舊主導(dǎo)全球MCU微控制器應(yīng)用市場(chǎng)格局。根據(jù)市調(diào)機(jī)構(gòu)IC Insights的統(tǒng)計(jì)，今年第2季全球MCU市場(chǎng)規(guī)模已達(dá)到近100億顆，其中4/8/16bit MCU依然佔(zhàn)有大多數(shù)市佔(zhàn)率。預(yù)估到2013年，全球MCU市場(chǎng)規(guī)模將超過(guò)130億顆，4/8/16bit MCU仍持續(xù)維持成長(zhǎng)趨勢(shì)?；萑鸾荩╒erigy）臺(tái)灣區(qū)總經(jīng)理陳瑞銘指出，全球MCU微控制器的ASP均價(jià)正不斷下滑，半導(dǎo)體測(cè)試廠商如何提供MCU業(yè)者藉由具備價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)力的測(cè)試儀器，進(jìn)一步因應(yīng)低階MCU應(yīng)用市場(chǎng)的發(fā)展趨勢(shì)，正是目前的重要課題。

附圖 : 圖左為惠瑞捷臺(tái)灣區(qū)總經(jīng)理陳瑞銘，右為惠瑞捷副總裁暨ASTS總經(jīng)理魏津。(Source：HDC) BigPic:500x338

惠瑞捷副總裁暨ASTS總經(jīng)理魏津博士表示，可提供100MHz等彈性傳輸容量、pin腳數(shù)多和能提高並行測(cè)試效能的測(cè)試機(jī)臺(tái)、以及將測(cè)試資源放在同一單板架構(gòu)（single or test-on-board）上、以兼顧測(cè)試效能和降低機(jī)臺(tái)的維持成本，是針對(duì)中低階MCU產(chǎn)品測(cè)試系統(tǒng)的主要發(fā)展核心。此外，根據(jù)市調(diào)機(jī)構(gòu)VLSI Research的預(yù)估顯示，以低階MCU為基礎(chǔ)的消費(fèi)電子產(chǎn)品，需要100MHz和以下MCU測(cè)試系統(tǒng)的市場(chǎng)規(guī)模，將從今年不到2億美元，成長(zhǎng)到2012年超過(guò)5.8億美元。因此，兼顧中低階MCU產(chǎn)品成本、並可發(fā)揮高階效能的MCU測(cè)試系統(tǒng)，正是未來(lái)多種元件測(cè)試需求的廠商或測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、以及MCU業(yè)者急切所需的解決方案。

惠瑞捷所推出的新款MCU測(cè)試系統(tǒng)，可針對(duì)4、8與16位元的MCU與其他低接腳數(shù)的低階IC元件進(jìn)行測(cè)試。此測(cè)試系統(tǒng)最高可運(yùn)作達(dá)100 MHz測(cè)試工作頻率與1024個(gè)I/O通道，擁有低成本與零佔(zhàn)用空間等優(yōu)勢(shì)，適用於講求成本效益的ICs與MCUs製程，可執(zhí)行晶圓測(cè)試（Wafer Sort）及終程測(cè)試（Final Test）。魏津博士強(qiáng)調(diào)，新款MCU測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用在晶圓測(cè)試領(lǐng)域，無(wú)須另外增加其他介面和pogo tower，且支援直接探針測(cè)試（direct probing），能有效降低測(cè)試機(jī)臺(tái)成本，並有助於提升晶圓測(cè)試的訊號(hào)保真度（signal fidelity）以及簡(jiǎn)化生產(chǎn)設(shè)定工作。

此外，新款測(cè)試系統(tǒng)的Tester-on-Board架構(gòu)，可藉由內(nèi)建的數(shù)位與直流裝置，簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng)硬體及其結(jié)構(gòu)，能以高產(chǎn)出量和低成本提高多元件並行測(cè)試的效能。新款測(cè)試系統(tǒng)並提供60M的深度向量記憶體（Vector Memory）以及8M的數(shù)位擷取儲(chǔ)存記憶體（Capture Memory），可因應(yīng)快速的元件生命週期並加以修正，且降低雜訊，提升測(cè)試準(zhǔn)確度與良率。因此新款測(cè)試系統(tǒng)具備易構(gòu)造、低故障設(shè)計(jì)及自我診斷的功能。

魏津博士並且指出，去年1月惠瑞捷併購(gòu)Stylus後，把作業(yè)系統(tǒng)搭配此款MCU測(cè)試儀器，提供直接的EDA工具連結(jié)，可縮短程式開發(fā)時(shí)程。EDA工具模擬後的內(nèi)容，可直接放在軟體平臺(tái)內(nèi)呈現(xiàn)；Stylus軟體並採(cǎi)用EDAS工具其中一項(xiàng)STIL格式標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試程式，可進(jìn)一步簡(jiǎn)化其他STIL標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試程式轉(zhuǎn)換作業(yè)。而當(dāng)軟體搭配深度向量以及數(shù)位擷取儲(chǔ)存器記憶體時(shí)，亦可大幅縮短程式開發(fā)時(shí)程。

陳瑞銘強(qiáng)調(diào)，此款MCU測(cè)試系統(tǒng)是惠瑞捷提供客戶各階處理器和控制器測(cè)試解決方案完整性的證明，也是因應(yīng)既有客戶隨著市場(chǎng)價(jià)格轉(zhuǎn)換調(diào)整生產(chǎn)策略下，得以持續(xù)提供客戶相關(guān)方案來(lái)穩(wěn)固業(yè)務(wù)基礎(chǔ)的重要關(guān)鍵。