STARC與Atrenta就EDA工具質(zhì)量管理體系展開合作
日本半導體技術(shù)學術(shù)研究中心（簡稱“STARC”）與Atrenta Inc.宣布，雙方合作開發(fā)一種電子設計自動化(EDA)工具質(zhì)量管理體系。該系統(tǒng)基于STARC提供的質(zhì)量評價數(shù)據(jù)庫，并且拓展了對Atrenta的SpyGlass寄存器傳輸級(RTL)平臺正在進行的質(zhì)量監(jiān)測。
作為此次合作的一部分，STARC為Atrenta提供了回歸測試規(guī)格和大量的設計測試案例。Atrenta隨后將這些測試整合進他們的SpyGlass平臺回歸測試套件，從而可實現(xiàn)對各版本SpyGlass平臺的質(zhì)量和生產(chǎn)準備就緒的詳細測試。Atrenta會為STARC提供一份質(zhì)量評價報告，其中包括回歸測試結(jié)果、發(fā)現(xiàn)的漏洞的類型以及在目標版本之前實施的決議。
STARC副總裁兼總經(jīng)理Nobuyuki Nishiguchi表示：“在過去一年半的時間里，我們一直與Atrenta合作實施這項計劃。SpyGlass系列的產(chǎn)品質(zhì)量使得我們能夠取得顯著進步。通過此次合作，STARC能夠更輕松地為我們的企業(yè)客戶提供領先的前端設計方法。我們的企業(yè)客戶如今能夠非常有效地部署新版SpyGlass?！?
Atrenta營銷部副總裁Mike Gianfagna說：“質(zhì)量數(shù)據(jù)庫是實施改良質(zhì)量程序的一種有效方法，因為它獲得了STARC所有客戶的授權(quán)，并且基于現(xiàn)實設計問題而開發(fā)。通過客戶測試案例獲取計劃，我們不斷改進我們的軟件回歸套件，而此次與STARC的合作是一次重要的補充。通過此次合作，我們可以加快向推進Early Design Closure® 的STARC客戶推出優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品。”
Atrenta與STARC打算將該計劃拓展至其它產(chǎn)品系列，以推動產(chǎn)品質(zhì)量的持續(xù)改善，并為STARC成員企業(yè)降低采用和部署成本。
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