
在當(dāng)今的工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中,需要進(jìn)行溫濕度采集的場合越來越多,準(zhǔn)確方便地測量溫度變得至關(guān)重要。傳統(tǒng)的有線測溫方式存在著布線復(fù)雜,線路容易老化,線路故障難以排查,設(shè)備重新布局要重新布線等問題。
我國的PCB研制工作始于1956年,1963-1978年,逐步擴(kuò)大形成PCB產(chǎn)業(yè)。改革開放后20多年,由于引進(jìn)國外先進(jìn)技術(shù)和設(shè)備,單面板、雙面板和多層板均獲得快速發(fā)展,國內(nèi)PCB產(chǎn)業(yè)由小到大逐步發(fā)展起來。中國由于下游產(chǎn)業(yè)的集
在電路板行業(yè)的生產(chǎn)制造中有一種工序是自選的(測試與不測試),今天幫廣大需要做PCB電路板的客戶分析一下,是否有必要在生產(chǎn)電路板的時候選擇測試與不測試的問題以及選擇什么方式的測試,電路板生產(chǎn)分為三大種類,今天
c8051f005單片機(jī)PWM測試程序//PWM輸出腳P0.3//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//-------------------------------------------------------
對學(xué)電子的人來說,在PCB電路板上設(shè)置測試點(test point)是在自然不過的事了,可是對學(xué)機(jī)械的人來說,測試點是什么? 基本上設(shè)置測試點的目的是為了測試電路板上的零組件有沒有符合規(guī)格以及焊性,比如說想檢查一顆電
c8051f005鍵盤測試程序//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//---------------------------------------------------------------------------
//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//-----------------------------------------------------------------------------#include//SFRdeclar
計數(shù)測試數(shù)碼管顯示程序#include//6.000MHz#defineucharunsignedchar#defineuintunsignedint#defineL0#defineR1ucharSEG7[10]={0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f};/*0~9的數(shù)碼管段碼
如果測試無法證明不存在嚴(yán)重的運行錯誤,那么嵌入式軟件開發(fā)團(tuán)隊如何才能確定其軟件沒有這些錯誤呢?基于數(shù)學(xué)證明的代碼驗證是值得一試的解決方案。在軟件驗證方面,可擴(kuò)展的高性能數(shù)學(xué)技術(shù)在實際應(yīng)用方面的最新發(fā)展十分有用,可實現(xiàn)對軟件中不存在運行時錯誤進(jìn)行證明。
單片機(jī)進(jìn)行脈寬調(diào)制(PWM) 直流電機(jī)調(diào)速測試程序;UNL2003提供電機(jī)驅(qū)動電流.(
對學(xué)電子的人來說,在電路板上設(shè)置測試點(test point)是在自然不過的事了,可是對學(xué)機(jī)械的人來說,測試點是什么? 基本上設(shè)置測試點的目的是為了測試電路板上的零組件有沒有符合規(guī)格以及焊性,比如說想檢查一顆電
隨著技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成(VLSI)時代,VLSI電路的高度復(fù)雜性及多層印制板、表面封裝(SMT)、圓片規(guī)模集成(WSI)和多模塊(MCM)技術(shù)在電路系統(tǒng)中的運用,都使得電路節(jié)點的物理可訪問性正逐步削弱以至于消失,電路
與以前的自我相比,現(xiàn)在的FPGA不再僅僅是查找表(LUT)和寄存器的集合,而是已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了現(xiàn)在的體系結(jié)構(gòu)的探索,為未來的ASIC提供設(shè)計架構(gòu)。該系列器件現(xiàn)在包括從基本的可編
本次設(shè)計硬件部分主要由信號放大、交直流轉(zhuǎn)換、AD轉(zhuǎn)換、量程轉(zhuǎn)換、用于數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)傳輸?shù)膯纹瑱C(jī)、接口芯片、串口以及PC機(jī)等部分構(gòu)成。首先,在PC機(jī)生成一個用于控制量程轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)顯示的窗口;先
對于云計算而言,應(yīng)著重從高端服務(wù)器、高密度低成本服務(wù)器、海量存儲設(shè)備和高性能計算設(shè)備等基礎(chǔ)設(shè)施領(lǐng)域提高云計算數(shù)據(jù)中心的數(shù)據(jù)處理能力。云計算要求基礎(chǔ)設(shè)施具有良好的
測試和測量設(shè)備跨越很寬的范圍。對簡單應(yīng)用來說,比較容易選擇合適的結(jié)構(gòu)來滿足需要和預(yù)算。應(yīng)用的復(fù)雜性增加時,結(jié)構(gòu)的選擇以及相關(guān)的費用也變得復(fù)雜了,就會做出錯誤的選擇,會更昂貴,正確的選擇
摘 要: 介紹了一套最新研制的光功率計自動測試系統(tǒng),該系統(tǒng)充分利用了計算機(jī)的現(xiàn)有資源,具有投資省、自動化程度高等特點。對于利用計算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣、實時通信、自動控制等應(yīng)用具有一定的參考價值。關(guān)鍵詞: 光開
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本文的主旨是啟發(fā)讀者去考慮電子芯片集成度提高對終測或生產(chǎn)測試的影響。特別的,射頻(RF)芯片測試方法的主要轉(zhuǎn)移變得越來越可行。一些關(guān)于生產(chǎn)測試的關(guān)鍵項目將在這里進(jìn)行
引 言現(xiàn)代科技對系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛,因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲,這一切使得設(shè)計調(diào)試和