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[導讀]一直以來,大規(guī)模芯片的測試過程都是即費時又費錢的活,TetraMAX II如何能縮短十倍的時間!

 一直以來,大規(guī)模芯片的測試過程都是即費時又費錢的活,TetraMAX II如何能縮短十倍的時間!

其實,芯片行業(yè)有許多讓人感覺非常“蛋疼”的事情,比如芯片集成度越高,測試耗費時間越長,一顆幾千萬門的芯片估計要跑二十天以上才能完成測試;芯片的工藝制程越高,流片的費用越讓人抓狂,28nm工藝流片費用至少千萬元以上……而這些也正是許多企業(yè)對芯片行業(yè)“望而生畏”的原因。

不過,在芯片從規(guī)劃、設(shè)計到流片生產(chǎn)的過程中,EDA工具的作用不言而喻,可謂是推動芯片行業(yè)發(fā)展的重要因素之一。作為EDA工具行業(yè)的大廠商之一,Sypnosys于7月18日在深圳發(fā)布了最新的EDA工具——TetraMAX II,旨在幫助企業(yè)進一步簡化芯片的測試。

 


 

Synopsis Product MarkeTIng Manager Robert Ruiz那么,TetraMAX II到底做了哪些突破性的進展呢?

簡單而言,TetraMAX II實現(xiàn)了三大優(yōu)勢,首先將運行速度提高至少一個數(shù)量級,使ATPG從數(shù)天的運行時間縮短到只有幾個小時;其次生成的向量數(shù)量減少25%,使企業(yè)能夠縮短測試時間并減低成本,在不影響測試成本的前提下提升測試質(zhì)量;最后實現(xiàn)所有服務(wù)器內(nèi)核(無論設(shè)計尺寸如何)的充分利用,打破了受限于高內(nèi)存的解決方案。

 


 

TetraMAX II的三大優(yōu)勢

因此,Synopsys設(shè)計集團執(zhí)行副總裁兼總經(jīng)理Antun Domic表示:“TetraMAX II提供了創(chuàng)新性和突破性的測試技術(shù),滿足客戶對更快ATPG和診斷的需求,以及減少硅晶測試時間。所以TetraMAX II已經(jīng)被許多國際廠商接納,應(yīng)用于提升芯片測試的效率,加快芯片推向市面的時間。”

實際上,汽車制造商為了減少事故的發(fā)生,正在快速部署先進的技術(shù),比如駕駛輔助系統(tǒng)(ADAS)。不過,由于這些系統(tǒng)中的故障可能導致非常嚴重的后果,需要汽車制造商與其供應(yīng)商合力提升芯片的質(zhì)量、可靠性和功能安全,同時盡量減小對測試成本和測試向量生成時間的影響。TetraMAX II已經(jīng)通過認證,符合ISO 26262汽車功能安全標準,甚至是最為嚴格的汽車安全完整性等級(ASIL D)要求。

SGS-T?V Saar GmbH功能安全軟件部門產(chǎn)品經(jīng)理Gudrun Neumann說:“符合ISO 26262認證資格的工具,可以幫助提高工程師對于EDA軟件工具的信心,放心地為電子安全系統(tǒng)開發(fā)汽車IC。工具達到ISO 26262最嚴格的ASIL D應(yīng)用要求,IC設(shè)計團隊就能促進產(chǎn)品符合整體功能安全認證要求。”

另外,意法半導體數(shù)字及混合工藝ASIC部SoC集成和DFT方法經(jīng)理Roberto MatTIuzzo表示:“在過去幾年中,ST與Synopsys通力合作,共同應(yīng)對復(fù)雜性、成本增加等日益嚴重的測試挑戰(zhàn)。TetraMAX II生產(chǎn)測試向量的速度加快了一個數(shù)量級,同時在不造成任何覆蓋損失的前提下大幅減少了向量的數(shù)量。因此,ST面對高密度的FD-SOI芯片過程中,有信心更快的完成測試,并且縮短芯片上市時間。”

最后,東芝設(shè)計技術(shù)開發(fā)部高級經(jīng)理Kazunari Horikawa表示:“較長的ATPG運行時間以及日益增長的測試向量數(shù)量帶來越來越大的挑戰(zhàn)。因此,要保持測試質(zhì)量的同時實現(xiàn)測試成本最小化,就需要減少測試向量并縮短運行時間。TetraMax II在保持測試質(zhì)量的同時,能夠縮短ATPG執(zhí)行時間,并將測試向量的數(shù)量減少高達50%,能夠最大程度的降低我們在SoC測試上的成本。”

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